可靠度试测规范.docVIP

附件2: 可靠度測試規範 可靠度測試項目目錄 NO Evaluation Test Items 評 價 項 目 1 Comperment temperature rise 元件溫度上升 2 High temperature short circuit 高溫短路 3 Life of electrolytic capacitor 電解電容算出壽命 4 Lightning surge 雷擊 5 Input ON/OFF at high temperature 高溫輸入ON/OFF 6 Dynamic source effect 動態輸入變動 7 High temperature tese 高溫測試 8 Low temperature tese 低溫測試 9 Temperature / humidity test 溫濕度循環測試 10 PLD test 輸入瞬斷測試 常溫、°C~35°C, 相對濕度45%~85% RH. 1. Component temperature rise 元件溫度上升: 目的：確保待測物之可靠度,確認各元件均在溫度規格內使用． 適用：所有機種適用． 測試條件： ａ.輸入電壓：規格範圍之最小、、 測試方法： a.依測試條件設定,當溫度達到熱平衡後,以熱電偶測定元件溫度,基板上之元件焊點需測量溫度. b.參考溫度Derating計算出最大溫升規格值△t. (i.e. Derating Curve 在100% Load 100%下最高至50℃,則以附表A  Derating率之溫度減去50得100%之LOAD下之△t,60℃時,Derating率為70%, 則減去60得到70%之△t.)實際負載在100%時依減50℃之△t.為規格值. c.元件之選擇以R-1溫度分佈測得之發熱較多元件做測定．d.元件實際溫升不能超過計算得出之△t. 2．High temperature shoty circuit高溫短路: 2.1 目的： 確認輸出短路放置後,待測物之可靠度. 2.2 適用： 除未加短路保護機種外所有機種適用. 2.3 測試條件： 　　 a. 輸入電壓： 規格範圍之最大輸入電壓.(實測取最大,例265V) b. 輸出電壓： 額定值. C. 周圍溫度： 動作溫度上限┼5℃(例65℃). d. 接 線 圖： 2.4 測試方法: a.待測物在設定測試條件下,輸出短路2小時以上. b.記錄溫度上升之情形,參照溫度Derating,不能超過規定溫度. C.解除短路狀態後確認輸出仍正常,部品不能有損壞. Life of electrolytic capacitor電解電容算出壽命: 目的：推定待測物之壽命,並確認其可靠度． 適用：所有機種適用． 測試條件： 　　 a. 輸入電壓：額定值. b. 輸出電壓：額定值. c. 負 載：額定. d. 周圍溫度：40℃. e. 接 線 圖： 3.4 測試方法: a.額定之輸出、: 　　　　 T1-T2 L1=LS ·2 10 L1:實際之有效壽命 LS:部品使用溫度範圍上限下之有效壽命 T1:部品之使用溫度範圍上限 T2:實際使用溫度 b.算出之壽命時間應≧規格所示. Lightning Surge雷擊: 4.1 目的：確認輸入端加入 Lightning Surge之耐受能力. 4.2 適用：規格有規定之機種. 4.3 測試條件： a.規格書有規定依規格條件. b.輸入電壓：額定(實測AC115V). c.輸出電壓：額定. d.負 載：額定. e.周圍環境： 常溫、μs,波尾長50μs之電壓,波形3KV*110%(限 流電阻100Ω). g.接線圖： 4.4 測試方法： a.依規定測試條件,施加Surge電壓於 輸入—輸入,輸入—Ground±極各3回 確認元件無破損,無絕緣破壞,Flashover Arc及保護回路誤動作情形發生. 5. Input ON/OFF at high temperature高溫輸入 ON/OFF: 5.1目的：高溫時輸入電壓ON/OFF重覆施加,確認産品之信賴性. 5.2適用：所有機種適用. 5.3 測試條件： a.輸入電壓：規格之輸入電壓範圍最大值(例:265V). b.負 載：額定10