多能谱X射线成像技术及其在CT中的应用.doc

2011 年 3 月（141-150） CT Theory and Applications Mar., 2011 郝佳, 张丽, 陈志强, 等. 多能谱 X 射线成像技术及其在 CT 中的应用[J]. CT 理论与应用研究, 2011, 20(1): 141-150. Hao J, Zhang L?, Chen ZQ, et al. Multi-energy X-ray Imaging Technique and Its Application in Computed Tomography[J]. CT Theory and Applications, 2011, 20(1): 141-150. 多能谱 X 射线成像技术及其在 CT 中的应用 郝佳 a,b，张丽 a,b ，陈志强 a,b，邢宇翔 a,b，康克军 a,b （清华大学 a.工程物理系；b.粒子技术与辐射成像教育部重点实验室，北京，100084） 摘要：随着探测器技术的不断发展，具有能谱分辨能力的光子计数探测器成为人们研究的焦点， 并在 X 射线成像领域开始得到应用。使用该种探测器，可以将具有较宽能谱分布的 X 射线分为 不同的能区分别进行计数，获得详细的能谱信息及不同能量射线的衰减信息，由此引出了“多 能谱成像”的概念。本文介绍了近些年来光子计数探测器技术的发展及其在 X 射线成像中的应 用，同时分析了多能谱技术应用于 CT 成像所带来的一些优势，如降低辐射剂量、提高信噪比、 提高物质识别精度、提高造影剂成像效果等。目前，许多研究机构都致力于研究更快速的电子 学设备，以适应高计数率下快速成像的需求，随着多能谱成像技术研究的不断深入，必将为 X 射线成像及 CT 领域带来许多新的变革。 关键词：光子计数探测器；X 射线成像；计算机断层扫描；多能谱技术 文章编号：1004-4140（2011）01-0141-10 中图分类号：TP 391 文献标识码：A X 射线自 1895 年被伦琴发现以来，已经成为医疗诊断、放射治疗、工业检测等领域的 重要手段。计算机断层成像技术（Computed Tomography，CT）诞生于 19 世纪 70 年代，实 现了三维成像并消除了物体重叠对检测带来的影响，在医学成像、工业及安全检查等领域 发挥了重要作用。随着 X 光机、探测器等技术的不断发展和进步，以及扫描方式、重建算 法的改进，CT 成像的图像质量和精度不断提高，扫描和重建时间大幅度缩短。 1976 年，Alvarez[1]提出了双能 CT（Dual-energy CT）的概念，利用两种不同能量的 X 射线对物体进行 CT 扫描并使用双能重建算法，可以准确地获得被扫描物体的等效原子序数 和电子密度的分布，从而将能谱的信息引入到 CT 成像中。双能 CT 较传统单能 CT 提供了更 好的物质识别能力，尤其是在爆炸物、毒品等危险物品的检测中被广泛地应用，发挥了不 可取代的作用[2]。 光子计数（photon counting）的概念从 80 年代提出以来，在弱光和微光的探测领域 发挥了重要作用[3]。近些年，随着光子计数 X 射线探测器（Photon Counting X-ray Detector， PCXD）技术飞速发展，尤其是与之相应的高速处理电子学设备和专用集成电路（Application Specific Integrated Circuits，ASIC）的进步，使得探测短时间大计数成为可能，并为 其应用于 X 射线成像打下了基础[4]。由于光子计数探测器具有能谱分辨能力，可以将具有较 宽能谱的 X 射线分能区进行计数，从而实现了“多能谱”成像。它相当于将能谱信息引入 到传统的 X 射线成像中，因此也被称为“X 射线颜色成像”（X-ray color imaging），该技 收稿日期：2010-10-12。 142 CT 理论与应用研究 20 卷 术被认为是未来 X 射线成像发展的趋势。2008 年北美放射学年会（Radiological Society of North America，RSNA）年会上，光子计数多能谱成像技术的应用作为一个热点专题进行了 深入的讨论，同时一系列的新产品和新技术也得到了展示，GE 公司展示了其利用光子计数 探测器的多能谱 CT 成像系统所得到的图像。Philip 公司也在加紧多能谱 CT 的研究和实验 工作，并推出了用于小动物成像的样机。由此可见，该领域的研究已经变得十分活跃。 1 双能成像技术介绍 使用两种不同能量的 X 射线对物体同时进行扫描，可以得到物体在不同能量射线响应 下的图像。根据 X 射线与物质的相互作用规律，射线与物质相互作用后的衰减与物质的原 子序数 Z 和射线能量 E 均有关系，因此，根据这些关系进行求解，可