手机 整机外观标准.docVIP

1 目的 為星博公司生产之手机產品質量檢查提供判斷合格是否的依據﹑產品接收的標准,界定產品Critical﹑Major﹑Minor缺限，保证手机外观、标识及一般性能符合设计要求。 适用范围 适用于星博科技手机产品最终檢查相关塑胶零件之來料檢查和制程中检查。 定义 a.表面外观等级: Cri，Critical Defect，致命缺陷：对产品使用者人身与财产安全构成威胁的缺陷； Maj，Major Defect：的缺陷； Min，Minor Defect次要缺陷：产品外观的缺陷；cc，Acceptable Defect，缺陷： 封样，Golden Sample，也称为金样板：由设计部门签名认可的、用于确认和鉴别各种订制结构件来料批量供货质量的样品；一般可分为标准样板和/或上限样板、下限样板、结构样板等。 4 目檢的環境條件目測基本条件是正常裸眼(或纠正视力)单眼視力不小于1.0(无色盲).要求 檢查距離1.LOGO 10mm以内与视窗部位,檢查距離为100mm; 2.浅色产品檢查距離为00mm; 3.深色产品檢查距離为00mm. 時間Time:3~5秒/遍(即检查某一部位,视线停留时间不超过3~5秒):其中产品 视窗部位不少于5秒.目測場地: 無塵;不肮臟 光源:日光燈1000± 200 Lux 且距离被检产品为1± 0.2m檢查角度:垂直光源45或90(其中表面为45且摆动10,B、C和D级表面为 90). 特别提醒：对于AA级表面，检查角度应为每一个方向。 抽样计划与接受标准 抽样计划：按照国标GB2828-87,正常抽检水平,一次抽样, II类 接受标准：AQL（Cri 0，Maj：0.Min：1.50） 检验标准 6.1产品外观检查 ( C：指打开电池盖后所有主机的内表面) “ D ”表示深度, “ L ” 表示长度, “ S ”表示面积, “ W ” 表示宽度,“ ? ”表示直径, “B” 表示距离. Defect Type 缺陷类型 Surface Class 表面等 Defect Level缺陷水平 Judgement判定 Defects Number L(mm) W(mm) ?(mm) S(mm2) B(mm) D(mm) Acc. Min. Maj. Cri. Line-type Defect线状缺陷 AA ≤0.5 ≤0.05 　 (≤0.02) 20 　 X 　 　 　 2 0.5--1 ≤0.05 　 (≤0.05) 　 　 X　 　 　 　 1 1 0.05 　 0.05 　 　 　 　 X　 　 1 A ≤0.5 ≤0.08 　 (≤0.05) 25 　 X　 　 　 　 3 0.5--1 ≤0.08 　 (≤0.08) 　 　 X 　 　 　 2 1--2 0.08-0.1 　 (0.08-0.2) 　 　 X　 　 　 　 1 2 0.1 　 (0.2) 　 　 　 　 X 　 1 B ≤2 ≤0.05 　 (≤0.10) 20 　 X 　 　 　 3 2--3 ≤0.08 　 0.10--0.20 　 　 X　 　 　 　 2 2--3 ≤0.10 　 (0.2-0.3) 　 　 X　 　 　 　 1 3 0.1 　 0.3 　 　 　 X　 　 　 1 C ≤5 ≤0.10 　 (≤0.5) 15 　 X　 　 　 　 2 ≤5 0.10--0.15 　 0.5--0.75 　 　 X　 　 　 　 1 5 0.15 　 0.75 　 　 　 X　 　 　 1 D Generally accepted industry wide discoloration and imperfections are allowed.一般缺陷都可接受。 X 　 　 　 Any Defect Type 缺陷类型 Surface Class 表面等级 Defect Level缺陷水平 Judgement判定 Defects Number 缺陷数量 L(mm) W(mm) ?(mm) S(mm2) B(mm) D(mm) Acc. Min. Maj. Cri. Point-type Defect点状缺陷 AA Contrasting color dot异色点 　 　 ≤0.15 (≤0.02) 20 　 X　 　 　 　 2 　 　 0.15--0.25 0.02--0.05 　 　 X　 　 　 　 1 　 　 0.25 0.05 　 　 　 　 X