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SPC统计过程管制 易腾企业管理咨询有限公司 课程目标 了解统计过程控制的控制理论。 掌握控制图制作方法。 掌握抽样、描图和判图方法。 分析和评价Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk、Cmk过程能力。 了解非常规控制图  统计过程控制的发展历史 控制图的历史 控制图是1924年由美国品管大师W.A. Shewhart博士发明。 最佳状况，制程中心等于规格中心，此时Cpk=2。 最差情形，可以允许制程中心，偏差±1.5σ，此时的Cpk=1.5 6σ是什么? 控制图与APQP 统计过程控制理论 过程控制 SPC的想法 普通原因和特殊原因-1 普通原因： 始终影响过程的变差原因； 特点： 重复出现 单个偶然因素对过程的影响非常小； 所有偶然对过程造成稳定的分布； 特殊原因： 不是始终作用于过程的变差的原因 特点： 不稳定； 突然出现； 单个偶然因素对过程的影响非常大； 所有偶然对过程造成分布改变； 普通原因与特殊原因举例 普通原因 合格原料的微小变化 机械的微小震动 刀具的微量磨损 加工方法局限性 气候、环境的微小变化等等 合格仪器的测量误差 怎样识别特殊和普通原因？ 局部措施和系统措施 局部措施 通常用来消除变差的特殊原因 通常由与过程直接相关的人员实施 大约可纠正15%的过程问题 认识控制图 认识SPC必须回答以下问题： SPC的理论基础是正态分布，但实际整体的分布多种多样，如正态分布、二项分布、卜氏分布等。 我们对整体分布的研究只能用统计的方法，用样本来推测整体。 “α”及“β”风险 “α”及“β”风险 抽样检验时的α 风险亦称为生产者冒险，β风险亦称为消费者冒险。 两种错误损失分析 发生第一种错误时, 虚发警报, 由于徒劳地查找原因并为此采取了相应的措施, 从而造成损失. 因此, 第一种错误又称为徒劳错误。 发生第二种错误时漏发警报, 过程已经处于不稳定状态, 但并未采取相应的措施, 从而不合格品增加, 也造成损失。 统计过程控制实践 如何确定子组 必须使在大致相同的条件下所收集的质量特性值分在一组, 组中不应有不同本质的数据, 以保证组内仅有普通原因的影响. 必须先找出过程中普通原因波动这个基准，以这个基准为过程正常的基准，进而来判定过程异常。 如何确定子组——错误例子 如此的取样方式会造成无法有效区别组内变异和组间变异，造成控制界限变宽，无法有效侦测制造变异。 如何确定抽样频率 如何确定抽样频率 抽样频率必须考虑以下方面： 过程历史状况 经常发生失控，就需要更频繁的抽样； 若班别切换会导致变更，则每班必须抽到； 发生失控时，对质量的影响程度 抽样的容易程度 抽样和测量样本的费用 如何确定子组数 高级SPC探讨 红灯控制图 只使用一张图来控制平均值和变异。 基本分成三个区：停止区(红区)、低警告区(黄区)、目标区(绿区)、高警告区(黄区)、停止区(红区)。 只要超过六标准差范围即为停止区。 而原始定量数据分布要先知道 ，才能设定其相应的控制界限。 本控制图的主要目的是在于过程中侦测出特殊原因。 其优点是可以不用计算，不用划图(但建议划图会更具体一些)，使用上比传统控制图方便。 本方法是运用了统计原理，但对操作员而言是不需要使用数学的。 谢谢！ 过程能力表示 Ppu：过程性能指数，与Cpu类似，只是变异采用所有样本的变异； Ppl ：过程性能指数，与Cpl类似，只是变异采用所有样本的变异； Ppk：过程能力指数，=MIN(Ppl, Ppu)； Cpm：过程能力指数，与CPK、PPK类似，只是变异采用斜方差； Cmk：机器能力指数； 过程能力计算 图解过程能力指数 整个过程的变异 组内变异 Ca、Cp、 Cpu、Cpl、 Cpk、Pa、Pp、Ppk、Cpm、Cmk？ 过程能力解释 Ca、Pa： 过程准确度； 过程中心与规格中心的对准程度； Ca、Pa 趋进于零，可以减少不合格品； Cp、Pp： 过程精密度； 过程变异宽度与公差的相对宽度； 提升Cp、Pp ，可以减少不合格品； 过程能力解释 Cpu、Ppu： 过程相对于上规格的能力； 由此可以推出落在上规格不合格率，或不合格PPM； 减小过程变异和调整过程中心位置可以改变Cpu、Ppu； Cpl、Ppl： 过程相对于下规格的能力； 由此可以推出落在下规格不合格率，或不合格PPM； 减小过程变异和调整过程中心位置可以改变Cpl、Ppl； 过程能力解释 Cpk、Ppk ： Cpk为过程能力指数，是短期过程变异水平； Ppk为过程性能指数，是长期过程变异水平； Cpk、Ppk指标，包含了过程变异宽度和过程偏离位置； 由此可以推出落在规格外的不合格率，或不合格PPM； 减小过程变异和调整过程中心位置可以改变Cpk、Ppk； 10 14 18 T 12 16