核辐射测量方法-第五章.pptVIP

第五章：伽玛射线测量方法 一、基本问题 二、不同放射性源的照射量率计算方法 二、不同探测器的影响 三、谱线复杂化 四、仪器性能指标 一、基本问题 一、基本问题 一、基本问题 一、基本问题 一、基本问题 一、基本问题 一、基本问题 二、不同形状γ射线源的照射量率计算方法 １、点状源的照射量率计算方法 γ照射量率常数Γ 物理意义：距离1居里的γ点源1米处，在1小时内所产生的照射量率。 严格定义：发射光子的某种放射性核素的照射量率常数Γδ是l2(dX／dt) δ除以A而得的商，其中(dX／dt) δ是在距离放射性活度为A的这种核素的点源l处由能量大于δ的光子所产生的照射率。 二、不同形状γ射线源的照射量率计算方法 γ照射量率常数Γ 当点源处于均匀介质中时，在介质内部距离质量为m 的点源R 处的γ照射量率为： 　　　　　　　　　　　　　　　　 式中，m为放射性物质的质量(g)；μ为介质对γ射线的线衰减系数(cm-1)；K为γ常数。 ２、线状源γ照射量率的计算 设线源长度为L厘米，放射性物质沿线源均匀分布，总放射性活度为A贝可。那么，单位长度内的放射性活度为A/L。又设源的γ照射量率常数为Γ，并忽略线源本身的自吸收。下面分三种情况进行讨论， dL＝asecθdθ，代入上式得： 上式对整个L积分，即只要从角0到θ1积分， 便可得Pl点的照射量率为： （2） P2点 　P2点在L的垂直平分线上，可视为两个长度为L／2的线源在此点所产生的照射量率的叠加，用与上面同样的方法可得此点的照射率为： （3）P3点 　　P3点离线源另一端点的投影距离为a1，可视为 线源(a1+L)在P3点产生的照射率，减去线源a1 在P3点产生的照射率： 3、面状源γ照射量率计算（圆盘源、碟源） 　　　面状源是指圆盘状辐射体的厚度远小于圆盘的横向半径，且远小于观测点到圆盘面上的距离。如大面积的表面放射性污染、用于辐射消毒的大型面源、出露地表的无限大铀矿体等。 　　　设面状源上放射性物质分布均匀，其分布半径为Ro，单位面积上的活度为A贝可／米2，γ照射量率常数为Γ。分两种情况讨论。 （1）P1点 P1点离面状源中心点的垂直距离为a，离面状源中心轴的距离为d。在面状源上任取一面积元dS＝rdrdθ，则面积元可视为点源，该面积元源在P1点的γ照射量率为： 　　　对半径为Ro的圆盘积分，可得它在P1点产生的照射量率： 　对角θ积分，得: 不同面积的矿体在不同观测高度上的γ射线照射量率表 体源计算的考虑： 　　　　所谓“小”探测器是指探测器的体积小于初始γ射线与吸收材料相互作用所产生的次级γ辐射的平均自由程；同时假定γ射线与探测器介质相互作用产生的所有带电粒子(光电子、康普顿电子、正负电子对)的能量全部沉淀在探测器中。 　　　次级γ辐射： 　康普顿散射的散射γ射线 　正电子湮没产生的γ光子。 　轫致辐射 　　　因为次级γ射线的平均自由程一般有几个厘米左右，如果探测器的尺寸不超过1或2厘米，就算满足‘小”的条件 6.４ 谱线复杂化 1、累计效应 累计效应是指入射γ光子在探测介质中通过多次相互作用所引起的γ光子的能量吸收。累计效应在“大”探测器模型中已有充分表述，对中等大小探测器来说也是常见的。 4. 边缘效应 γ光子转移给次级电子的动能在一般情况下都被晶体所吸收。但若这个次级电子产生在靠近晶体边缘处，它可能逸出晶体以致将部分动能损失在晶体外，所引起的脉冲幅度也要相应地减小，这种影响称为边缘效应。特别是对高能γ射线，由于次级电子的能量较高因而其射程较长，边缘效应的影响更显著。因而边缘效应将引起康普顿连续谱形状向幅度偏低的方向畸变。由于光电峰也因此而失去某些事件，所以与电子泄漏并不严重的情况相比，光电份额也将要减少。 6.5 干扰辐射的影响 1、特征X射线峰 许多放射源本身有特征X射线放出，它们在能谱上形成特征X射线峰。 2、散射辐射和反散射峰 γ射线在源衬托物上、探头外壳上(包括封装晶体的外壳和光电倍增管的光阴极玻璃) 以及在周围屏蔽物质上都可发生散射，产生散射辐射。 3、湮没辐射峰 对较高能量的γ射线来说，当它在周围物质材料中通过电子对效应产生正电子湮没时，放出的两个0.51MeVγ光子可能有一个进入晶体，这样就会产生一个能量为0.51MeV的光电峰及相应的康普顿坪。 4、轫致辐射的影响 γ射线常伴随β衰变放出，而β射线在物质中被阻止时会产生轫致辐射。轫致辐射的能量是连续分布的。 6.6 γ射线谱仪的主要技术参数 能量分辨率 能量分辨率是表征γ射线谱仪对能量相近的γ射线分辨本领的重要参量，可用全能峰的半高宽度(FWHM)或相对半高