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SiC基反向开关晶体管关键技术及
应用基础研究
,2014-2017 ,梁琳,华中科技大学
内容提要
项目立项时的研究内容和目标
已取得的研究进展和有待解决的问题
成果概要
项目执行中的体
2
反向开关晶体管
RSD——Reversely switched dynistor
基于可控等离子层换流;
芯片全面积均匀同步开通;
开关损耗小;
开关特性好,可获得几百kA大电流、几十kV高电压、
MW至GW峰值功率和高达100kA/µs的di/dt耐量。
3
Si RSD研究成果
RSD堆体 基于RSD的脉冲发生平台
单脉冲, 12kV, 173kA, 32C 重复频率
Why SiC?
高绝缘击穿场强
高耐压单只器件
高本征温度 更好的重频特性
高热导率
材料参数 Si 4H-SiC
击穿电场(MV/cm) 0.3 3
室温间接带隙宽度(eV) 1.12 3.26
热导率(W/cm/K) 1.5 4.9
5
主要研究内容和目标
研究内容
反向注入控制电荷理论与SiC RSD导通机理研究
建立适用于SiC RSD的临界预充电荷理论,分析SiC RSD在脉
冲放电环境下的导通机理,研究由晶闸管式开通转变为雪崩击
穿引起反向注入可控等离子体开通器件的原理,探索SiC RSD
全面积均匀快速导通、减小脉冲前沿残余电压突升、协调大电
流与高di/dt的方法。
NPN 型SiC RSD结构优化设计
以SiC材料基本特性为基础,提出SiC RSD器件结构。优化设
计漂移区厚度及浓度,以充分发挥SiC材料高绝缘击穿场强优
势,折中SiC RSD开通前沿动态特性与准静态特性。确定阳极
交替排列元胞特征尺寸,以满足预充等离子体均匀分布要求。
合理设计结终端台面造型。 6
主要研究内容和目标
研究内容
SiC RSD芯片制造的若干关键工艺研究
阳极P+和N+小单元交替排列结构、阳极多元胞结构的选
择性干法反应离子刻蚀、离子注入及退火、稳定可靠欧姆
接触电极的制备、台面造型及表面钝化等。
SiC RSD特性测试与评价
高速开通与关断的动态特性测试,深入分析主要电学参数与温
度的关系,研究包括电流集中、台面损坏、钝化层过热等可能
因素引起的器件失效,比较SiC RSD与Si RSD开关的电流上升
时间、重复频率、峰值电流与脉宽等参数。
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