8第八天 SPC.pptVIP

子组数量 (Number of Sub-Group) 收集越多的子组可以确保导致变差的主要原因有机会出现。子组的数量要能体现流程由特殊原因而导致的变动. 子组的数量可以根据现场实际而变化，一般为25个或更多。 子组容量 (Sub-Group Size) 选择子组容量应使得一个子组内在该单元中的各样之间出现变差的机会最小化。 连续型数据: X Bar-R 图常用2~5作为子组容量、 =25的子组容量在X BAR-S 图中使用、I-MR chart 的子组容量为1。 属性量数据: 取决于缺陷/次品 产生的概率.确保每组至少出现一个缺陷/次品。 取样频率 (Sampling Frequency) 能够更有效地探测一段时间内由于特殊原因导致的变化。应当在适当的时间收集足够的子组，这样子组才能反映潜在的变化 一般原则: 取样的频率要至少10倍于由于特殊原因而导致的超出控制界限的概率。（如特殊原因10天出现一次，则取样频率为每天一次） 流程不稳定时取样频率要高于流程稳定的时候。 由于中心极限理论，分组的均值会趋于正态分布 案例背景： 客户想要一些他的轴的直径在受控范围内的证据。幸运的是，一个黑带运用SPC，通过对所关心的输出变量（轴的直径）的监测解决了这一产品的问题. 这个BB的SPC图表是否在受控的范围内呢? 在Minitab中: STAT CONTROL CHARTS Variables Charts for Subgroups Xbar-R 案例背景： 巧克力生产商德芙知道其在欧洲工厂生产的一种产品的净重是否在受控范围内。在连续收集了20天的数据后，请一位黑带来进行分析。 在Minitab中: STAT CONTROL CHARTS Variables Charts for Subgroups Xbar-S 在Minitab中: Stat Control Charts Variables Charts for Individuals I-MR 在Minitab中: Stat Control Charts Variables Charts for Individuals I-MR-R/S (Between/Within) 在Minitab中: Stat Control Charts Attributes Charts P… 在Minitab中: Stat Control Charts Attributes Charts NP… 在Minitab中: Stat Control Charts Attributes Charts C… 在Minitab中: Stat Control Charts Attributes Charts U… Shewhart 管制图常数表 Defectives: non-conforming units and % non-conforming Defects: number defects per unit Concept first proposed by Dr. Deming. The series of distributions on the left depict day to day process variation due to fluctuations on the process. Common cause variation and special cause variations sum over time to the yellow distribution. MAIC process Either prevent the defect from occurring or detect it on the output side. 对于“受控”的过程，改进工作的重点将经常放在减少过程中的普通原因变差上。要减小这种变差就要“缩小”控制衅上的控制限——即经重新计算的控制限要相互靠近。许多不熟悉控制图的人觉得这样做对过程的改进是一种“惩罚”。他们没有意识到如果一个过程处于稳态且控制限计算正确，过程错误地产生超出控制限的点的机会是相同的，与控制限间的距离无关 还没有谈到的一点是控制限的重新计算问题。一旦经过程合适的计算，并且如果过程中普通原因变差不发生改变，则控制限就是合理的，出现偏差的特殊原因的信号不需要重新计算控制限。用于长期分析的控制图，最好是尽可能少重新计算控制限，但需要根据过程本身情况来决定。 举例 - C 图 举例 - C 图 在此处输入代表缺陷个数的列 点击”C Chart Options” 可以进入以下界面（和X Bar –R类似） 在“Tests”列，可以选择需要选择的测试种类。注意：对于计数型数据的控制图而言