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时序电路测试向量的压缩
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时序电路测试向量的压缩
于文忠 牛道恒 杨士元
(清华大学 自动化系,北京 100084)
摘要:时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法,
减少测试序列的总长度,从而减少了仿真的时间和 ATE设备的测试的时间,加速了
测试的流程。实验结果表明,这种方法实现了较高的压缩效率,同时对测试序列的
故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小。
关键字:自动测试 时序电路 向量压缩 OCTOPUS100 ATE
中图分类号:TN43 文献标识码:A
基金项目:国家自然科学基金资助项目
0 引言
[1]
在利用故障字典法 进行对时序电路进行故障诊断时,首先要生成测试向量,然后仿真
生成故障字典。由确定性时序电路测试生成算法产生的向量(例如 HITEC[2]),采用与初态无
关技术针对每个故障进行测试生成,因此每个测试向量组是独立的。但在故障仿真和将测试
向量加到 ATE 设备时,向量是连续加入的。简单地将各组向量连接起来就有可能出现冗余,
因此可以通过一定的压缩算法来减少测试向量总长度。这使得仿真中要处理的数据减少,从
而加速仿真过程;同时也减少了 ATE 设备的测试时间。
压缩效率是衡量算法有效性的一个重要指标,定义:压缩效率=1-现在向量总的长度/
原向量总的长度。压缩效率越大,说明原测试向量的冗余程度越高,压缩效果也就越好。
1 问题的数学描述
长度为 L1 的测试向量序列 P1,假设 P1 可以覆盖故障 Fx。P1 对应一个集合 G1,把 P1
某个X值变为0(或1)或在P1前(或后)增加任意的向量而产生的向量序列P2对应的集合G2,
则G2是G1的子集。向量序列P2一定可以覆盖故障Fx。以下面S641的一组测试向量序列(设
为 P1,对应集合为 G1)为例,
--another pattern
XXX1XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX
X11XXX0XXXXXXXXXXXXX1XXXXXXXXXXXXXX
X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX
X00XXXXXX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX
XXX0XXXXXXXXXXXX0XXXXXXXXXXXXXXXXXX
将向量序列中任意的 X 变为 0 或者1 产生的向量序列,例如以下向量序列(设为 P2, 对应集
合为 G2)
--another pattern
XXX1XXXXXXXXX1XXXXXXXXXXXXXXXX00000
X11XXX0XXXXXXXXXXXXX1XXXXXXX1XXXXXX
X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX
X00XXXXXX1X1XXXXXXXX1000XXX0XXXXXXX
XXX0XXXXXX1XXXXX0XXXXXX1XXX0XX00000
则为新的向量序列是原来的测试序列的子集——即 G2⊆G1;在原测试向量序列 P1 前(或后)
增加任意的向量,例如以下向量序列(设为 P3, 对应集合为 G3),第一个测试向量和最后一
个是新添加的
--another pattern
————————————
作者简介:于文忠(1981— ) ,男,硕士生
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X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXX1XXX
XXX1XXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXX
X11XXX0XXXXXXXXXXXXX1XXXXXXXXXXXXXX
X100XX1XX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX
X00XXXXXX1X1XXXXXXXX1000XXXXXXXXXXX
XXX0XXXXXXXXXXX
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