均匀性度量中的密集性偏差与稀疏性偏差.PDFVIP

， （）： ２００２２２犃１ １２８－１３４ 均匀性度量中的密集性偏差与稀疏性偏差 ， １２ １ １ 胡东红 李德华 王祖喜 　 　 １ （华中科技大学图像所 图像信息处理与智能控制国家教委开放研究实验室 武汉 ４３００７４； 　 ２湖北大学物理学与电子技术学院 武汉 ４３００６２） 　 ［］ ２ 摘要：该文根据王元，方开泰 的近似偏差（ ）的均匀性准则，定义了理想布点情况 犱犻狊犮狉犲犪狀犮 狆 狔 下的标准半径，定义了 维单位子空间 ｍ ［，］中两点间的 距离和 距离，由此定义了最 ｍ Ｃ ＝ ０１ ｆ ｇ 大空穴半径和最小空穴半径，提出了均匀性度量的密集性偏差与稀疏性偏差 给出了二维情况 ． 下的计算结果 我们的方法计算量不大，不仅能较好地度量布点的均匀性以及布点在低维投影 ． 的均匀性，而且能指导如何调整布点使之尽可能与理想布点接近． 关键词：均匀性；偏差． （ ）主题分类： 中图分类号： 文献标识码： 犕犚１９９１ ６２Ｅ２０ Ｏ２１２．１ Ａ 　　 　　 文章编号： （ ） １００３３９９８２００２０１１２８０７ １ 引言 　 ［］ ２ 均匀设计（ ）自 年由王元和方开泰 提出以来，作为统计试验设计 ｕｎｉｆｏｒｍｄｅｓｉｎ １９７８ ｇ 的方法之一，已经在航天，化工，制药，造船等诸多领域得到了广泛应用 而大批均匀设计表 ． 则是在有合理的均匀性度量的基础上构造出来的 基于不同的均匀性度量会构造出不同的 ． 均匀匀设计表 到目前为止，均匀性的度量有这样几种：一种是基于距离概念而提出来的， ． ［］ ５ 包括均方误差（ ），散度 （ ）以及最小最大距离（ ｍｅａｎｓｕａｒｅｅｒｒｏｒ ｄｉｓｅｒｓｉｏｎ ｍｉｎｉｍａｘｄｉｓ ｑ ｐ ［］