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基于光学扫描测量数据的叶片3型面偏差分析研究龚正国 ,程云勇 ,张定华 ,王苦愚(西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室 ,西安 710072 )摘要 :为了满足叶片型面快速检测的需要 ,研究基于光学扫描测量数据的型面偏差分析技术 。详细描述光学扫描测量的原理及数据采集过程 ,运用基于特征点的预配准和 SVD 2ICP 算法来进行测量模型与 CAD 理论模型的配准定位 ,通过 U G /A P I函数获取截面数据 ,对截面数据进行偏差计算 ,得到偏差情况统计结果 。同时在偏差计算的过程中 ,针对叶片 检测中截面各区域公差要求不一样的情况 ,提出一种基于轮廓线参数化的公差带设计方法 ,使得公差带的设计更好地符合实际检测的需要 。基于上述算法 ,综合运用 VC ++ , U G /A P I和 V TK等工具 ,开发了叶片型面偏差分析软件 ,对于实现叶片型面的快速检测具有重要意义 。关键词 :型面偏差 ;公差带设计 ;配准 ;涡轮叶片中图分类号 : TH16; TP391 文献标识码 : A 文章编号 : 1671 —3133 ( 2009 ) 12 —0097 —05B la de a irfo il dev ia t ion in spec t ion ba sed on op t ica l scann in g da taGON G Zheng2guo,