扫描微电极与扫描隧道显微镜联用系统及其微探针研讨.pdfVIP

扫描微电极与扫描隧道显微镜联用系统及其微探针研究 李彦林昌健+卓向东 (厦门大学化学化工学院化学系，固体表面物理化学国家重点实验室，厦门361005) 摘要： 本文a：扫描微电极技术研究基础卜，结合当前成熟的扫描隧道显微镜技术，提ff|将扫描微电极技术与扫描 隧道显徽镜技术进行联用的研究思路，并初步建立了仪器软硬件系统。同时，通过模拟测试和实际体系测试对联用 系统的扫描微探针技术进行r验证和完善。研究表明．我们自行设计的扫描微电横与扫描隧道显微镜联用系统可同 时检测金属／溶液界面同一微区位置的电位分布信息和局部形貌信息，为深入研究金属局部腐蚀过程提供了一种新的 有力工具。 关键词：扣描隧道显微镜扫描微电极技术联用系统扫描微探针 近年来，扫描探针显微镜技术正在向检测材料组分、结构和化学活性的方向努力，并出现了力调 制(Force Modulation)技术及相位成像技术(PhaseImaging)，同时研究者也不断探索各种SPM技术的联 的扫描微探针联用技术的研究在国际上虽刚起步，但已引起极大的兴趣和重视，并成为一个重要的 研究热点和发展趋势。本工作在扫描微电极技术(SRET)研究基础上，结合扫描隧道显微镜技术 (STM)，提出将扫描微电极技术与扫描隧道显微