基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析.docVIP

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2017-12-22 发布于河南
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基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析

基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析本文由peuv1ybkqo贡献 pdf文档可能在WAP端浏览体验不佳。建议您优先选择TXT，或下载源文件到本机查看。电子测量技术　第３Ｏ卷第７期　２０年７０７月　ＥＬＥＣＴ【Ｎｌ　ＭＥＡｓ　ＥＭ旺ＮＴ　ＴＥＣＨＮ０【ＧＹ　　ＣｌＤ基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析　程云波　方葛丰　（．１西安电子科技大学机电工程学院西安７０７；１０１　２．电子测试技术国防科技重点实验室青岛２６５）６５５　摘要：为满足当今电路测试和故障诊断的需求，可测性设计（Ｆ）ＤＴ已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成　部分。ＩＥ　１９１ＥＥ１４．作为一种标准化的可测性设计方法，弥补了传统测试的缺陷，复杂的电路互连提供了测试手　为段。现在大部分的复杂芯片都支持ＩＥ１４．ＥＥ１９１标准，怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计　人员必须考虑的问题。本文从边界扫描原理人手，通过对一目标板上互连结构的测试，从可测性设计的角度探讨了如　何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用。　关键词：边界扫描；可测性设计；扫描链；故障诊断　中图分类号：ＴＮ４　１文献标识码：Ａ　ＤＦＴ　ｎａｙｅ　ｆＰＣＢ　ａｅ　ｎ　ｏｎｄｒ－ｃｎｔｃｎｏｏｙａｌｓｓｏ　ｂｓｄｏｂｕａｙｓａ　ｅｈｌｇ　Ｃｈｎ　ｎ　ＦａｇＧｅｅｇ　ｅｇＹｕｂｏｎ　ｆｎ２（．Ｓｈｏ　ｆｇｎｅｉｇＸｉｉｎＵｎｖｒｉ， ’ｎ７０７；１ｃｏｌ　ｉｅｒ，ｄａ　ｉｅｓｙＸｉ　１０１　ｏＥｎｎｔａ２ｌｃｒｎｃ　ｓａｄＭｅｓｒｍｅｔＴｃｎｌｇ　ｔｎｌａｏａｏｙＱｉａ　６５５　．ＥｅｔｏｉＴｅｔｎ　ａｕｅｎ　ｅｈｏｏｙＮａｉａＬｂｒｔｒ，ｎｏ２６５）ｓ　ｏ　￣ｄＡｂｔａｔｓｒｃ：Ｔｏｍｅｔｔｅｎｅ　ｆｃｒｕｔｔｓ　ｎ　ａｌｄａｎｓｓ　ｅ　ｈ　ｅｄｏ　ｉｃｉｅｔａｄｆｕｔｉｇｏｉ，ＤＦＴ　ａ　ｅｎａ　ｎｉｐｎａｌ　ａｔｏ　Ｃ　ｎ　ｙｔｍ　　　ｈｓｂｅ　ｎｉｄｓｅｓｂｅｐｒ　ｆＩａｄｓｓｅｄｓｇｉｇｅｉｎｎ．Ａｓａｓａｄｒ　　　ｔｎａｄＤＦＴ　ｅｈｄ，ＩｍｔｏＥＥＥ　１９　ｏｎａｙｓａ　ｅｈｉｕ　ｒｖｄｓｍｅｓｒｓｆｒｃｍｐｉａｅ　１４．１ｂｕｄｒ－ｃｎｔｃｎｑｅｐｏｉｅ　ａｕｅ　ｏ　ｏｌｔｄｃｉｔｒｏｎｃ　ｅｔｎ　ａ　ｌｍａｅｕ　ｈ　ｈｒｃｍｉｇｏ　ｒｄｔｎｌｅｔｅｈｉｕｓｎｅｃｎｅｔｔｓ　ｄｃｎｗｅｌｋ　ｐｔｅｓｏｔｏｎ　ｆｔａｉｏａ　ｓ　ｃｎｑｅ．Ｎｏｄｙ，ｍｏｔｃｍｐｅ　　ａ　ａ　ｉｔｔｗａａｓｓ　ｏｌｘＩｃｎＣｓｓｐｏｔＩｕｐｒ　ＥＥＥ　１９１ｔｓ　ｅｔｒｓＩ　ｈｕｄｂ　ｏｓｄｒｄｂ　ｈ　ａｄｒ　ｅｉｎｒｔａ　ｏｔ　ｓ　ｈｓ　Ｃｓｔ　１４．　ｅｔｆｕｅ．ｔｓｏｌ　ｅｃｎｉｅｅ　ｙｔｅｈｒｗａｅｄｓｇｅ　ｈｔｈＷ　ｏｕｅｔｅｅＩ　ｏａａｈｅｅａｂｔｅ　ｅｔｂｌｙｎ　ｈｇｅ　ａｌｏｅａｅＢｓｄｏ　ｕｄｒ－ｃｎｐｉｃｐｅａｄｙｔｓｉ　ｏ　