损伤对猕猴桃果实电特性的影响 Effect of Damage on Dielectric Properties of Kiwifruits.pdfVIP

6 2011，V01．32，No，05 食品科学 ※荩础研究 损伤对猕猴桃果实电特性的影响 唐燕1，杜光源2，张继澍-，木 712100：2．西北农林科技大学理学院，陕西杨凌 (1．西北农林科技大学生命科学学院，陕西杨凌 712100) 摘 要：以猕猴桃品种“海沃德”果实为材料，采后果实经50cm高处自由落体碰伤处理，利用日置智能LCR测 试仪测定了果实的6个电参数(复阻抗Z、并联等效电容cp、并联等效电感Lp、损耗系数D、电导G、阻抗相 数的变化。结果表明：在(25±I)℃条件下，随着电激频率的增加，无论损伤果还是对照果，z、Lp均呈逐渐 减小的变化趋势，Cp、G呈逐渐增加的变化趋势，D呈现先上升后下降的变化趋势，0呈现先下降后t升的变 化趋势。损伤果采后z在6个电激频率条件下都显著低于对照果，所以z可作为区分其损伤与否的敏感电参数。在 100kHz和25lkHz两个电激频率条件下，损伤果采后D值显著高于对照果，所以在这两个特征频率条件下D可作 为区分“海沃德”猕猴桃果实损伤与否的敏感电参数。 关键词：猕猴桃；损伤；电特性；敏感电参数 Effectof 011 of Dielectric Kiwifruits Damage Properties Yanl，DU TANG Ji—shul·事 Guang-yuan2，ZHANG ofLife AF (1．CollegeScience，NorthwestUniversity，Yangling712100，China； of AF Science，Northwest 712100，China) 2．Coaege University，Yangling Abstract：Inthis fruitsofkiwifruit tocreama model experiment．thepost-harvest eulfivar‘Hayward’wele∞lecteddalnage cIILAn tester in free-fallmovementfroma of50 LCRHioki wasusedtodetc枷ne 6electrical through height intelligent changes offruits parameterssuch勰compleximpedance(z)，paralleleqmvalemcapacitance(cp)，parallelequivalentinductance(印)，loss coefficient(D)，conductance(63andimpedancephaseangle(a)atelectric 1000kHzwiththeextensionof time．ResultsindicatedⅡlatboth andcontrolfruits adl冀2reasetrend storage damag