浅析集成电路可靠性.pptVIP

* 假设在完成一项任务过程中，某产品需要循环动作100次，而且其故障率λcy=5次故障/106循环。 求:其可靠度RC ＝? 解： * 故障树定量分析 与门： 或门： 1:底事件发生 0:底事件不发生 顶事件的故障率? 或门 与门 求出系统的最小割集? * 概率重要度 概率重要度概念： 第i个部件不可靠度的变化引起整个系统不可靠度变化的程度。用数学公式表达为： * 已知：λ1=0.001/h, λ2=0.002/h, λ3=0.003/h试求：当 t=100h 时各部件的概率重要度? 解： 或门 与门 * * 《集成电路可靠性》期末复习 * 1.名 词 解 释 中位寿命： 满足 的t0.5称为中位寿命，即寿命比它长和比它短的产品各占一半时的时刻。 可靠性定义： 可靠性是指产品在规定的条件和规定的时间内，完成规定的功能的能力。 * 衬底热电子(SHE)效应： 热电子来源于衬底电流，在势垒区电场的加速下运动到Si-SiO2界面，其中部分电子的能量可以达到或超过Si-SiO2势垒高度，便注入到栅氧化层中去，被电子陷阱所俘获，相应的调制了硅表面势，引起MOS器件跨导的下降及阈值电压的漂移，这就是热电子损伤。 * * 沟道热电子 (CHE)效应： 热电子来源于表面沟道电流，是从源区向漏区运动的电子，在漏结附近受到势垒区电场加