MALDI-TOF（基质辅助激光解析离子化-飞行时间质谱）综述 基质辅助激光解析离子化用于飞行时间质谱的发展概况.doc

基质辅助激光解析离子化用于飞行时间质谱的发展概况 摘要：扼要介绍了飞行时间质谱在分析合成高分子中的基本原理、主要优点及存在的困难；详细分析了基质辅助激光解吸电离的基质、盐(阳离子)、pH和样品制备方法、一些新的无机材料的应用、样品检测前脱盐处理等关键因素对实验结果的影响；阐明了这一分析技术在合成高分子定量测定及其应用的研究及展望。 关键词：基质辅助激光解析离子化（MALDI） 飞行时间质谱（TOF） 基质 样品制备 pH值 Abstract: the basic principles, main advantages, and existing difficulties of TOF in analyzing synthesized macromolecule are introduced. The using of matrices, salts, and influnces caused by pH, sample preparations, new inorganic materials, desalting forehand detection are discussed in details. Finally, applications and prospects of MALDI-TOF in analyzing synthesized macromolecule are clarified. Keywords: MALDI TOF matrices sample preparation pH 1 飞行时间质谱（TOF-MS）概述 mv2/2=qeV，其中，v为离子在电场方向上的速度。离子以此速度穿过负极板上的栅条，飞向检测器。离子从负极板到达检测器的飞行时间t，就是TOFMS进行质量分析的判据。在传统的线性TOFMS，离子沿直线飞行到达检测器；而在反射型TOFMS中，离子经过多电极组成的反射器后反向飞行到达检测器，后者在分辨率方面优于前者，图一为常规线形TOF和反射式TOF图示。 图一 常规线形TOF和反射式TOF 1.2 TOF-MS技术及应用的发展历程 以离子的飞行时间作为判据进行质量分析的创意，是Stephensen在1946年提出来的。最初设计的是线性TOFMS。离子的飞行时间与其质量的平方根成正比。与其他类型的质谱仪相比，这种设计具有两个突出的优点：(1)到达检测器的所有离子都能在一张图谱中显示出来，而不需要进行任何电压或电流的扫描，这使快速测定成为可能，同时对被测对象没有质量数的限制；(2)离子运动中没有经过筛选，从而使离子源产生的离子绝大多数都可到达检测器，即离子传输效率很高，使高灵敏度成为可能。不过由此可能带来如下问题：离子在进入飞行区时的初始条件不可能完全一致，特别是与连续离子源如ESI，APCI等联用时，离子产生的位置、时间、初始动能及初始速度方向的差异，都会造成飞行时间的延长或缩短，导致质谱峰扩宽，分辨率下降。很长一段时间，分辨率低成了阻碍飞行时间质谱技术发展的主要因素。此外时间信号的接收与处理技术落后也影响了TOFMS的应用。 为了解决这个问题我们引入了MALDI技术，并且在TOF上引进了延迟引出等技术。离子延迟引出(Delay Extraction)即当激光照射靶的瞬间，若靶电极和与其相对的离子引出电极处于相同的电位，即在两电极之间形成无场区，那么被解吸的离子以不同的初始速度在无场区内运动，经过一段延迟时间后，速度高的离子离靶远，速度低的离子离靶近，然后以脉冲方式在瞬间使靶与引出电极处于不同电位，由此产生的电场把离子引出，经聚焦透镜后飞出离子源。离靶近的离子比离靶远的离子得到更大的加速(因而获得更大的动能)，适当选择延迟时间及靶与引出电极间电压差，可以有效地补偿离子的初始动能分散，从而显著地提高线性TOF质谱仪的分辨率，这一技术即为延迟引出技术或称为“脉冲离子引出”(Pulse Ion Extraction) [1] 图二为连续引出和延迟引出技术比较。 图二 连续引出和延迟引出技术比较 2 MALDI概述 图四 MALDI-TOF联用示意图 在MALDI-TOF联用普遍为人们所接受的同时，其本身也正受着诸多因素的限制，比如仪器复杂并且价格昂贵；在分析精密度，可靠性，分辨率等方面存在不足。 不同的目标分析物决定了要使用不同性质的TOF质量分析器与MALDI串联。如：一个简单的线型TOF适合分析大分子量的物质（完整蛋白质，寡核苷酸，多聚糖），而反射型的TOF在小分子化合物的研究分析中，能够达到较好的分辨力。 在一些商业化仪器里，不同性质和功能的分析器往往被综合到一台仪器上，以削减成本。然而，这样带来的另一问题，就是复杂性提高，可靠性下降。 最近，人们正在逐步优化诸如仪器尺寸，最大加