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第-1--四届全国混合集成电路学术会议论文集
微波组件和模块失效分析结果统计与分析
来萍 李萍 张晓明 郑廷硅 李少平
(信息产业部电子第5研究所，
电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室， 广州510610)
摘要：本文对近30例微波组件和模块失效分析结果进行了统计和分析，得到了微波组件和模
块在使用中失效的主要原因、分类及其分布，为微波组件和模块的生产方和使用方提供了有价值
的统计数据及分析结果。
关键词：微波组件失效分析统计分析
TheStatisticsand fortheFailure Resultof
Analysis Analytical
Module
Microwave
Lai Li Zhen Li
P讯g PingZhangXiaomingTingguiShaoping
ofInformation
(No．5ResearchInstituteofthe Industries，
Ministry
National for and ofElectronic
KeyLaboratoryReliabilityPhysicsApplicationTechnology Component，
510610)
Guangzhou
its
Abstract：thestatisticsand forthefailure resultofmicrowavemodule，and
analysis analytical
main andthedistributionare inthis also thevaluable
causes，types given paper．Thepaperprovides
and forthe anduserofmicrowavemodules．
statistics results manufacturer
analysis
words：MicrowavemoduleFailure Statistics
Key analysis analysis
1引言 微波组件和模块的失效分析工作，本文总结
随着现代电子技术的发展，电子系统的 了近30个案例，通过统计分析，探讨微波组
工作频率越来越高，微波组件和模块(包括 件和模块的主要失效模式及失效原因，以及
组件和模块)在各种领域中的应用范围越来 如何在制造工艺、来料检验和分析、使用操
越广，而在使用过程中遇到的质量和可靠性 作等方面进行优化改进，从而达到降低微波
问题也日益增多，有些已经造成了生产方和 组件和模块的失效概率，提高整机系统的可
使用方的巨大经济损失。近两年来
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