钽电容器基本知识.pptVIP

7）电性能测试 电容器经100%电性能测试： 漏电流按额定电压、在正常大气条件下测量。 因漏电流测试仪的充电电流较小（＜200mA） 对于容值较大的电容器(尤为液钽)，漏电流需经缓慢下降才能达稳定值 ，我司工艺规定1min读数。 电容量、损耗角正切测试频率为100Hz，测试仪设置为串联模式。 钽电容器现行标准： GJB63B-2001 有可靠性指标的固体电解质钽电容器 总规范 GJB773A-96 有可靠性指标的非固体电解质钽电容器 总规范 GJB63A/1A-91 有可靠性指标的CAK型固体电解质钽电容器 详细规范 SJ50063/3-2002 CAK-8型有可靠性指标的气密封固体电解质钽电容器 详细规范 SJ50733/3-2003 CAK35型有可靠性指标的气密封非固体电解质钽电容器 详细规范 SJ52283/1-96 CAK45型有可靠性指标的片式固体电解质固定钽电容器 详细规范 SJ20208-92 CAK70型有可靠性指标的双极性固体电解质钽电容器 详细规范 GB/T2693-2001 电子设备用固定钽电容器 总规范 GB9583-88 CA型固体电解质固定钽电容器 详细规范 GB7215-87 CA42型固体电解质固定钽电容器 详细规范 SJ/T10030-91 CA30型非固体电解质固定钽电容器 详细规范 SJ/T10504-94 CA70型双极性固体电解质固定钽电容器 详细规范 QZJ840628 钽电解电容器的“七专”技术条件 钽电容器的失效分析 1）固体钽电容器的失效机理 钽电容器虽有性能优、寿命长、可靠性高的特点，但其仍符合电子元器件的失效普遍规律，即浴盆形失效率曲线。其前期失效可在老化过程中剔除，而固体钽电容器没有电解液干涸遭致失效的可能，因此后续只有随机失效的可能。综合说来 大致有三种模式：电流型、电压型、发热型。 a) 电流型失效，常见于电容器的漏电流异常增大，表明其氧化膜上的缺陷部分恶化，引起介质的漏导增大，最后导致介质短路。如在充放电频繁的电路中，可能的情况下应串联保护电阻。当电压一定时，串联电阻越大即Ω/V值越大，失效率显著减小。美军标MIL-C-39003/6中规定，在85℃条件下，可串联3Ω电阻，并耐1A电流冲击。 b) 电压型失效，是指使用过程中出现异常导致工作电压或浪涌电压突然过高，结果引起电容器内部局部闪火，最终导致介质击穿。 另外，电容器长期经受较高工作电压，而氧化膜中不可避免地存在着杂质或其它缺陷，当这些部位的场强较高，电流密度较大，导致局部高温点出现，从而留下诱发热致晶化的隐患。在金属氧化物界面，由于金属杂质的存在，也有诱发场致晶化的可能。随着施加电压的增加（即场强提高）和环境温度的提高（缺陷部位温度升高），电容器的失效率也增加。 为延长电容器的使用寿命和提高其可靠性，经常采取降压使用，通常实际使用电压不超过电容器额定电压的70%。 c) 发热型失效，是产品的损耗太大，导致产品发热，热量累积，诱发热致晶化。 2）液体钽电容器的失效机理 a) 反向电压 银外壳的液体钽电容器(CA30、CA35)不能施加反向电压。反向电压会使银外壳上的铂黑剥离，并使银迁移至阳极，沉积在氧化膜上，即使很低的反向电压和较低电流密度也能获得枝蔓似的银沉积。大部分的反向电流可在氧化膜的杂质和缺陷处通过，而阳极表面沉积的银将构成导电通道,从而增加漏电流，进而使介质被击穿致产品失效。 钽外壳的液体钽电容器（CA38）可承受3V反向电压。因钽外壳表面能形成一层很薄的氧化膜，当电容器被施加反向电压时，钽外壳上的氧化膜处于正向偏压状态，因此仍可保证产品有较小的漏电流。但更高的反向电压仍会将全钽液体钽电容器击穿。 b) 过电压 对液体钽电容器而言，少量的过电压仅使其漏电流增大，但当电容器上施加的电压超过其形成电压（额定工作电压的1.4～1.5倍）后，产品的漏电流会急剧上升，引起介质表面局部发热；如出现闪火，内部发热和负极上释放的氢气会使电容器内压增加，致使密封失效甚至发生爆裂。 如果液体钽电容器长期在高温和高压下工作，阳极氧化膜易出现场致晶化，产品漏电流急增，直至击穿。 c) 纹波电流 纹波电流亦能使银离子向阳极迁移和沉积。特别使低频纹波，银离子迁移更为明显。 d) 环境温度 液体钽电容器的使用温度下限为-55℃，如果温度更低，工作电解液会冻结，使产品开路。而长期在高温下工作，液