液晶器件扭曲角与光延迟的光学外差法测试技术理论研讨.pdfVIP

LCD 2006 基金项目：长春市科技局项目lNo：2004192) 液晶器件扭曲角与光延迟的光学外差法 测试技术理论研究 陆云涛1，2于涛3 com；2．中国科学院研究生院，北京100039；3．大连海事大学光电子技术研究所，辽宁大连116026 摘要 2扭曲角与光延迟的外差法测试理论 本文把光学外差法应用于液晶器件扭曲角与光延迟的测试，提 出了测试系统的光路简图，推导出了外差式测试方程，并对 2．1测试系统的光路结构及原理 此方程进行了数值模拟与分析。此方法将液晶层的相位差转 图l是外差式测试系统示意图。光源采用塞曼稳频的He— 化为光学拍频信号的相位，由传统方法的测量光强转为测量 Ne激光器，它的输出光束中含有稍有差别的两个频率∞．和 相位差，能克服传统方法的缺点，因此具有较高的精度与抗 to。，且分别为左旋和右旋圆偏振光。光线经1／4波片成为两 干扰性。 束正交的线偏振光，经分束器后分成参考光路和信号光路。被 分束器反射的部分即参考光路，透过分束器的部分即信号光 路。在每条光路中仍然是双频的正交线偏振光。检偏器LPl 关键词 和LP2的作用是分别在每条光路中，使双频光的振动方向一 液晶显示；参数测试；扭曲角；光延迟；光学外差法。 致而 中图分类号：TN247’ 发生干涉，产生光学节拍。拍频信号由光电探测器PDl、 文献标志码：A PD2转换为交流电信号，再进行数据处理以获得信号的相位 信息，得到两路信号的相位差。 1引言 信号光的坐标系以及相关角度的定义如图2。x轴平行于 液晶显示器件已在各种领域得到了广泛的应用。液晶器 E。。的振动方向，Y轴平行于E。：的振动方向(E。。和E。：分别是 件的扭曲角和光延迟数值，影响到液晶盒的透光率、电光曲 信号光进入样品前的两束线偏振光)。实际测试前，可以通过 线的陡度、视角特性等111，与显示质量关系很大，因此准确测调整1／4波片的转角，使线偏振光的振动方向位于容易测量的 量这两个参数相当重要。 方位。设光线进入面上液晶分子的指向矢方向在x-y平面的 一些文献f21一[10l中已经提出了一些方法用于液晶参数的测 投影与X轴夹角为a，检偏器LP2的透光轴与X轴夹角为0。 试，如相位补偿法【2】、Stokes参数法…【4l、光谱法f51161【7】以及利 本文中，仅作为未知量，0作为已知量。 用CH液晶盒进行偏振态转换的方法【8l等，但是都有一些明显 在参考光路中，光电探测器PDl接收到的光学节拍的强 的缺点。采用光谱测量会由于液晶盒内部多层膜之间的反射 度可表示为 而产生Fabry—Perot效应，不能得到很高的精度，且光谱法复 厶=4品+4】乏+钆AnCOS(O)6t+九) (1) 杂、花费较高。上述方法的测试值都是光强的大小，容易受 其中t．Ob=f=Ol—m2即频率之差，巾R=巾R。一巾R：即相位 光源波动或环境变化的影响。而且由于光强信号及光电转换 器件输出的电信号都是直流量，直流漂移也会影响测量结果。 之差，A。。、巾。。和A。。、巾。：分别表示频率为Ot