研制超级TCD检测器的关键技术.docVIP

研制超级TCD检测器热导检测器（TCD）TCD灵敏度的9个因素中，因素1－8是通过“拿来主义”可得到技术；因素9（信噪比）是难以得到的技术。而影响因素9最大的元素是池温波动表1。表1 影响TCD的热丝温度温波动v/℃ 载气流量 单臂 25μV/mL·min 双臂 7μV/mL·min 池压力 单臂 17.3μV/kPa 双臂 1.12μV/kPa 机械冲击（3g物体从2.5cm高处跌落在TCD外壳上） 10μV 国外发达企业拥有先进精确温控技术，将TCD池温波动±0.02℃。然而，为了垄断技术获取高额利润，国外发达企业严格封锁了先进精确温控技术，使我国只能生产低档TCD，池温波动±0.1℃。不难看出，先进精确温控技术是研制超级TCD的核心技术。 二． TCD池温低性能的原因 研究表明，采用温场结构、牺牲快速性和PID控制等已经落后技术，是造成国产TCD池温低性能的三大隐性杀手。 温场结构造成不可控噪声 人们对客观世界的认知是有限的，我们还有很多的无奈。比如，传统控制理论只认知了线性控制系统，而对有非线性、时变性和不确定性的工业系统还不甚了了，传统控制面临着严峻的挑战。 传统PID控制只解决了精确控制线性系统问题，还没有解决精确控制有滞后的系统。为了使PID能够控制滞后系统，传统控制通常采用温场结构回避滞后。传统TCD就是通过在TCD外面加一个温场加热炉和测温头紧贴加热器构造的温场结构，如图1所示。 图1 温场结构的T CD 温场结构虽然克服了滞后，使PID能够精确控制温场。但是，由于TCD被置于温场闭环控制系统之外，TCD内部扰动（比如：桥流、载气流量、池压力和机械冲击等）影响了自身恒温也影响了温场的恒温，导致了测量噪声。我们做如下分析：请参见图2，TCD内部扰动直接作用到TCD上而导致TCD温度波动，这一变化通过结构内部热传递又反过来影响了炉温，于是炉温控制系统发挥作用维持炉温的恒定。然而，这个炉温的控制精度即便很高并不代表对TCD温度的控制具有同样的动态与静态精度。换言之，对于不同强度的扰动应该有一个与之对应的最佳炉温来克服其产生的TCD温度偏差。另一方面，虽然炉温的反馈控制系统也包含了对各扰动所产生后果的克服，但不难看出控制通道比扰动通道长的多，亦即：扰动对TCD的影响快而有效，而控制作用欲将TCD的受扰状况‘拉’回来，需要经过以下流程：TCD→炉温→PID调节器输出→加热器功率→炉温→TCD，不仅要花费很长时间，而且动态误差不可避免，还可能会有静差。 F(S) 桥路电流、载气流量等 … 扰动通道 炉温设定值 ＋ PID 加热炉 炉温 TCD － TCD温度 控制通道 炉温传感/ 变送器 图2 温场系统与TCD检测器框图 牺牲快速性制造了中国式顽疾 传统PID也未解决精确控制时变系统的难题，而实际工业系统中又大量存在着时变性，比如，温控系统使用环境的变化就是参数时变。为了使PID能够精确控制时变系统，传统控制采用通常牺牲系统的快速性保证系统的稳定性。 牺牲系统快速性等于失去自动控制的实用性，这是一个基本原则。然而，我国TCD性能测定严重违背了基本原则。国产TCD通常是在理想使用环境条件下（不允许开门窗、不允许人员走动的无干扰环境），采用超常的过渡过程时间（过渡过程时间≥5小时）测定的。这样测定的TCD性能，不仅不能代表TCD实际性能，而且是一种“假”指标。实际应用后，必然发生稳定性、可靠性、灵敏度和重复率等问题。这就是国产分析仪器存在的中国式顽疾（即高性能指标，低稳定性、低可靠性、低灵敏度和低重复率）的内幕。 PID控制TCD池温波动难以突破±0.1% 传递函数为 的稳定二阶系统的过渡过程有两种收敛形式，即当阻尼比0ζ1时是衰减振荡收敛形式和当ζ1时是无振荡指数收敛形式。推而广之，我们将一般稳定系统的过渡过程也分为两种收敛形式：一是衰减振荡收敛形式，二是无振荡收敛形式。 我们注意到，衰减振荡的系统在