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第 卷第 期 红 外 与 毫 米 波 学 报
19 3 ol. 19, No.3
年 月
2000 6 J. Infrared Millim. Waves June,2000
原子氢辅助分子束外延生长对GaAS
材料性能的改善%
王海龙 朱海军 宁 东 汪 辉 王晓东 郭忠圣 封松林
(中国科学院半导体 半导体超晶格国家重点实验室 北京, , ,100083)
摘要 利用深能级瞬态谱( )研究了常规分子束外延和原子氢辅助分子束外延生长的掺杂 和 的 同质
DLTs si Be GaAs
结构样品中缺陷的电学特性 发现原子氢辅助分子束外延生长的样品中缺陷的浓度与常规分子束外延生长的样品相比.
有明显的降低,这可解释为生长过程中原子氢对缺陷的原位中和与钝化作用.
关键词 原子氢辅助分子束外延生长 深能级瞬态谱, (DLTs),深能级缺陷.
THE IMPROVEMET CHARACTERISTICSOF HOMOEPI-
TAXIAL GaAS GROWN BY ATOMIC HYDROGEN-
ASSISTED MOLEC LAR BEAM EPITAXY%
WANG ~ai Long Z~U ~ai Jun NING Dong WANG ~ui WANG Xiao Dong- - -
GUO Zhong sheng FENG song Lin- -
(National Laboratory for superlattices and Microstructrues Institute of semiconductors Chinese, ,
Academy of science Beijing, 100083, China)
AbStract The electrical activity of defects in GaAs grown on GaAs substrates doped with si and Be by both conventional
( ) - ( - )
molecular beam epitaxy MBE and atomic hydrogen assisted MBE ~ MBE were characterized by deep level transient
spectroscopy The trap densities are significantly reduced in the homoepitaxial GaAs grown by ~ MBE compared to that. -
grwon by MBE The reduction of trap densities is attributed to in situ passivation of these defects by atomic ~ during the.
growth The improvement characteristics of GaAs materials will be significance for fabrication of semiconductor devices. .
Key w r S atomic hydrogen assisted molecular b
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