漂移区的改进对SOI+LDMOS频率特性的影响研究.pdfVIP

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漂移区的改进对SOI+LDMOS频率特性的影响研究.pdf

第28卷专刊 应用光学 V01.28Sup. of 2007年12胃 AppliedOptics Dec。2007 Journal 文章编号:1002,2082(2007)SO.0094.03 LDMOS频率特性的影响 漂移区的改进对SOl 曲 越,李德昌,习 毓,姜雨男,何 琳 (西安电子科技大学技术物理学院,陕西西安710071) 摘 要:借助ISE软件,以调试后各参数幢能优良的匿形化S01LDMOS器件为访真平台,采餍 StepLDD结构、层藏LDD结构、阶梯掺杂结构以及“鸟嘴”结构来降低输出电容,提高器件的频率 转蛀。模拟结暴表明:这4秘方法最多可分别降低徐盘电容88.4%,98。S%,43%和85.5%。 关键词:漂移区;输出电容;频率特性;岛嘴结构 中图分类嚼:TN9

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