元素分析技术与应用.ppt

基本概念: 1.激发电位：将原子中某一外层电子由基态激发到高能态所需要的能量， 用eV表示。激发电位越高，谱线强度就越小。 2.共振线：原子由激发态跃迁回基态所发射的谱线。 3.第一共振线：由第一激发态跃迁回基态所发射的谱线。 4.原子线：中性原子被激发后发射的谱线。 5.离子线：离子被激发后发射的谱线。在高温下产生的离子与溶液中的离 子不同，可以有Al+、Al2+、Al 3+及Na+、Na2+等离子状态。M+离 子的谱线用罗马字II表示，M2+的谱线用III表示，其余类推。 ICP的优点： 1.检出限低：一些元素的检出限可达ppb甚至ppt级； 2.精密度好，即重现性好； 3.动态范围宽：可达3-4个数量级； 4.基体效应小：使用ICP光源，常常可以用一套标准样品分析多种试样； 5.不用电极，避免了污染； 6.可同时进行多元素测定。 二．光源的发展 1．化学火焰：常用的火焰有空气乙炔焰和空气丙烷焰。 2．电弧：电弧是较大电流通过两个电极之间的一种气体放电现象，所产生的弧光具有很大的能量，可以使试样的原子激发而发射出线状光谱。 3．电容火花：是利用升压变压器把电压升高后向一个与分析间隙并联着的电容器充电，当电容器上的电压达到一定值后，将分析间隙的空气击穿而在气体中放电。放电时有很大的瞬间电流密度，使通道和火舌的温度高达10000K以上。 4. 等离子体 等离子体一般是指高度电离的气体。它包含大量的电子、离子，也含有部分分子和原子，但整体呈电中性。其温度高达几千甚至数万度，因而能使许多难原子化、难激发的元素都能被测定，且灵敏度大大提高。 等离子体产生原理 1. 炬管置于高频线圈的正中，线圈的下端距中管的上端2-4mm，水冷的线圈连接到高频发生器的输出端。当线圈上有高频电流通过时，则在线圈的轴线方向上产生一个强烈振荡的环形磁场。 2.冷却（等离子）氩气以外管内壁相切的方向进入ICP炬管内，冷却石英管壁。防止其被高温的ICP烧熔。开始时，炬管中的原子氩并不导电，因而也不会形成放电。 3.当点火器的高频火花放电在炬管内使小量辅助氩气电离，一旦在炬管内出现了导电的粒子，由于磁场的作用，其运动方向随磁场的频率而振荡，并形成与炬管同轴的环形电流。原子、离子、电子在强烈的振荡运动中互相碰撞产生更多的电子与离子。终于形成明亮的白色Ar-ICP放电 第二节 ICP发射光谱分析 2.ICP的环状结构及趋肤效应 ICP的环状结构 ICP光源 第二节 ICP发射光谱分析 5.Ar-ICP的温度比火焰温度高的原因 化学燃烧火焰的高温是由激烈的化学反应产生的。 在ICP中，气体不是被化学反应释放的热能所加热，而是被电能加 热。等离子体的温度与气体的导电有关，即与电子数、离子数有关。 增加电功率可有效提高温度。 6.元素粒子在ICP中的滞留时间： 在观测区内，被测元素粒子在ICP炬中的滞留时间比在火焰光源中 的滞留时间要长得多。 第二节 ICP发射光谱分析 (二)ICP的光谱特性 1.工作气体在200-500nm产生的谱线很强 其中较强的线有： ArI415.9nm、ArI420.1nm N383.0nm、N410.0nm、 N411.0nm、N491.5nm、 N493.5nm。 氩ICP（a）和氮ICP(b)光谱 第二节 ICP发射光谱分析 2.出现OH、NH、NO等分子谱带 第二节 ICP发射光谱分析 4. ICP的离子线强度大 第二节 ICP发射光谱分析 (四）影响谱线强度的主要实验参数 1.高频功率的影响： ①对于同一元素的原子线和离子线，高频功率的变化对不同观测高度上谱线强度的影响不一样； 第二节 ICP发射光谱分析 ②高频功率的变化对同一元素、不同激发能的谱线强度的影响也不同 第二节 ICP发射光谱分析 功率对CaII317.93nm的强度及背景的影响 信噪比和功率的关系 第二节 ICP发射光谱分析 2.气体流量的影响： ①载气流量对同一元素的原子线和离子线强度的影响是不同的 第二节 ICP发射光谱分析 2.气体流量的影响： ②载气流量对同一元素、不同激发电位的谱线强度的影响也不同 3.观测高度 第二节 ICP发射光谱分析 (五）ICP发射光谱分析中的干扰及其校正 1.光谱干扰 （1）分析线和干扰线重叠： 例如，钢铁中Ce的测定，其最 灵敏线Ce413.380nm完全和基体Fe 的FeⅠ413.387nm重叠； 分析组成复杂的血清中的Sr的 含量时，Sr的最灵敏