半导体器件物理-PN结直流伏安特性定量分析.pdfVIP

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西安电子科技大学 Physics of 微电子学院 Semiconductor Devices 双极型器件物理(双语) 游海龙 XD Physics of Semiconductor device 第一章:PN结二极管 1-1 平衡PN结定性分析 1-2 平衡PN结定量分析 1-3 理想PN结直流伏安特性 1-4 实际(Si )PN结直流I-V特性与理想模型的偏离 1-5 PN结交流小信号特性 1-6 PN结瞬态特性 1-7 PN结击穿 1-8 二极管模型和模型参数 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.2 XD Physics of Semiconductor device 1.3 理想PN结直流伏安特性 1 理想PN结模型 2 PN结直流伏安特性定性分析 3 PN结直流伏安特性定量分析 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.3 XD Physics of Semiconductor device 一.理想PN结模型 1.理想PN结模型近似条件 1) 耗尽层近似:空间电荷区的边界存在突变,并且耗尽区以外 的半导体区域是电中性的。耗尽层不存在多余的离散离子; 2) 载流子的统计分布采用波尔兹曼分布近似; 3) 小注入假设Low-level injection :即注入的少数载流子浓度小 于多数载流子浓度,掺杂都离化; 4) 在耗尽层内不存在产生-复合电流,并且在整个耗尽层内,电 子电流和空穴电流恒定:PN 结内的电流处处相等;PN结内 的电子电流与空穴电流分别为连续函数;耗尽区内的电子电 流与空穴电流为恒定值; 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.4 XD Physics of Semiconductor device 一.理想PN结模型 2. 近似条件(2) (玻尔兹曼分布)的应用: 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.5 XD Physics of Semiconductor device 二.理想PN结直流伏安特性的定性分析 1. 零偏情况 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.6 XD Physics of Semiconductor device 二.理想PN结直流伏安特性的定性分析 2. 反偏情况 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.7 XD Physics of Semiconductor device 二.理想PN结直流伏安特性的定性分析 3. 正偏情况 微电子学院 理想PN结直流伏安特性的定量分析.8 XD

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