RIMFOS微位移测试系统的研讨.pdfVIP

335 RIM—FOS微位移测试系统的研究 王军 张文瑶 (海军装备技术研究所 海研究室，上海．200083) 摘要反射式强度调制型光纤传感器(RIM—FOS)微伯移测试系统，其光强信号很容易受到外界干扰，在实际应用 中必须采取一些措施减小或消除外界的十扰，进一步提高测试系统的精度、稳定性和重复性。本文在前人研究的基础上， 对RIM—FOS微位移测试系统进行了深人研究，采用光强调；I；|』和分光补偿的方法提高r测试系统的精度。 关键词RIM—ms光强微位移测试 反射式强度调制型光纤传感器(ReflectiveModulatedFiber Intensity Optic 用于测量位移、应变、压力、表面粗糙度等多种物理量，在光纤传感技术领域r’有十分重要的地位。这种光 纤传感器尽管优点很多，但目前尚不能达到很高的精度，主要原因在于它对光源、光纤、反射面性质的特性 变化导致通道中被传输的光强发生变化，从而引起测量误差。特别是光源功率的波动，被测物体表面反射 率的不同，以及光在光纤中传输损耗(包括奉征损耗和弯曲损耗)的改变，都会对测量造成误差。凶此，在 测量精度和稳定性要求较高的情况F，上业上实用化RIM—FOS测试系统的设计必须采用某种形式的补 偿，以减小或消除上述因素带来的影响。本文在借鉴前人研究的基础上，采用光强调制，分光补偿、数字滤 波等手段设计了RIM—FOS微位移测试系统，从而可以有效的提高了系统的测量精度。 输入 1反射式强度调制型光纤传感器测量微位移的原理 回 光 纤 反射式强度调制型光纤位移传感器是较为广泛使用的一种光纤传感器。回 传 感 最早的反射式强度调制型光纤位移传感器的基本工作原理如图1所示。整个 头 传感器系统包括光源I。、光纤传感头和光电接收器D。光纤传感头由发射光纤 和接收光纤组成；光源I．发出的光经发射光纤至被测对象表面，反射回来的光 }紫 线由接收光纤接收，最后由光电转换元件D将接收到的信号光转换为电信号。 图1反射式强度调制型 当光源功率保持不变时，接收光纤接收到的光强与光纤探头和反射体之间的距 光纤位移感器工作原理 离存在着一定的对应关系，因此我可以根据检测到的光强信号，推算出位移量 的大小。 反射式强度调制型光纤传感器的光耦合原理如图2所示，我们认为实际上纤端光场既不是纯粹的高 斯光束，也不是纯粹的均匀分布的几何光束，而是更接近于两者的混合。在综合上述两种近似情况后，给 出一个既与实际相符，又具有通用性的纤端光场场强分布： ⅣT 垂(r，=)：—／t万,Ol弋0．elp[一r2／R2(：)] (1) 丌肛。L=』 式巾，墨，表示光波在光纤中损耗，，0为光源耦合到光纤中光强，R(z)为光场分布等效半径，定义为 R(z)=oo+ktall缸3，2 (2) 其中，n。为纤芯半径，以为光纤的最大入射角，k为光场耦合系数，表征光源的性质和耦合条件对光 场分布的影响。对于发射式光纤传感装置