X射线荧光光谱分析硅铝质冶金辅料研究.pdfVIP

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2018-01-11 发布于未知
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X射线荧光光谱分析硅铝质冶金辅料研究.pdf

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第41卷增刊(2) 钢铁 V01．41，Supplement但1 2006年12月 IRoNANDSTEEL December2006 X射线荧光光谱分析硅铝质冶金辅料张国民，顾兰兰，邱蒙，吴占山 (鞍钢新轧钢公司质量检验中心，鞍山114021) 摘要：采用日本岛津公司生产的xI{F一1800顺序型x一射线荧光光谱仪，用无水四硼酸锂作熔剂，研究了熔融制样方法，讨论选择了熔融机设定程序对制取熔片效果的影响。以x一射线荧光光谱法测定稀渣剂、聚渣剂、除渣剂、保温剂等硅铝质冶金辅料中的Sioz、Al舢．元素。其精密度高、准确度好、分析速度快，能及时指导冶炼生产。关键词；x射线荧光光谱，玻璃熔片，冶金辅料，硅，铝 XRF of Based Si02-A1203 SpectrometricAnalysis Material MetallurgyAuxiliary ZHANG Zhan—shah Guo—min，GU Lan—lan，QrUMeng，WU (AISCQualityinspectionCentre，Anshan114021，China) wmdetermined XRF一1800 fluo㈣enee with Abstract：Si02．A1203 Sequential spectrometry byusing X-ray wasusedasa methodhassuch as satisfactoryresuks．AnhydrousLhO一28203 fluxingagent．This advantageshigher analyticefficiency,higheraccuracy,higherprecision． fluorescence melt moaerial，Si，A1 spectrometry，Glass auxiliary Key-ords：X-ray piece，Metallurgy 稀渣剂、保温剂等硅铝质材料属炼钢辅料。过日本岛津公司生产的顺序型x射线荧光光谱去使用常规的分析方法对其中硅、铝等各成份逐个进行分析，分析时要先碱溶再酸浸，为消除元素间 4KWRh靶X射线管。干扰还要采取过滤、分离等繁杂手段，分析速度慢，东京科学株式会社生产的TK--4200型样品玻且溶解分离过程中较易带来人为误差。采用玻璃熔璃片熔融机片法，用x一射线荧光光谱仪分析聚渣剂等，分析速度快、偶然误差小，可以有效的消除荧光分析中硝酸钾：200。C灼烧2小时的基体效应，极大的提高了分析准确度。溴化钾：(40％水溶液) 1．2试验条件 1试验部分 1．2．1 xRF一1800荧光仪试验条件见表l。 1．1仪器与试剂