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第四届全国流动显示会议 粒子像斑三维定位的透视成象原理和方法
粒子象斑三维定位的透视成像原理和方法
董 守 平
(石油大学 (北京),102200)
摘要 在三维粒子成象测速 (PIV)方面,可运用体积光照明同时从不同光轴用多个照相机
获得 PIV图象,如何根据这些不同光轴获得的PIV图象确定出粒子物点的空间位置是实现
三维粒子成象测速的前提。基于此,本文提出了根据多幅不同光轴的PIV图象的粒子象斑
实现粒子物点三维定位的透视成像定位原理和方法。精确确定透视平面与透视中心在空间
的位置是实现粒子物点三维定位的关键,直接测定透视中心 (照相机的光学中心)和透视
平面在空间的精确位置用常规的测量手段和方法难以奏效,本文针对透视图像成象特征及
规律进行了较为深入的研究探讨,这对于寻求精确计测透视中心和透视平面空间位置的方
法有作重要意义。并作为实例,本文给出了两光轴夹角为900情况下实现粒子物点三维定位
的一系列具体方法和有关算法及定量关系
关键词 PIV测速 三维测速 透视成象原理 定位匹配
ProspectiveImageArithmeticofParticlePositioningIn3-DPIV
DONG,Shou-Ping
(UniversityofPetroleum,Beijing,102200)
abstract
Inspatialilluminationtwocamerassetalongdifferentvisuallinesareoftenusedin3-DPIV
methods.Howtodeterminethe3-Dpositionsoftheparticlesaccordingtothetwoimagesobtained
bythecamerasisofmostimportantinthemethods.Thispaperproposedamethodbaseduponthe
principleofprospectiveimagefordeterminingthe3-Dpositionsoftheparticlesseededinaflow
field.Meanwhile,foraninstanceofthevisuallinespe中endiculareachtoother,thearithmeticof3-
Dparticlepositionandrelativeexpressionswasgiveninthispaper.
Keywords 3-DPIV prospectiveimaging positionmatching
0引言
由于粒子成象测速(PIV)技术具有不干扰流场和全流场测试的优越性 在有关流速测量
的很多学科和领域中都得到了广泛应用,同时也促使了近年来P[V技术的迅速发展 口前,
主要在两个方面对 PIV技术的应用提出了更高的要求 第一,要求测速在空间和时间上有
更高的精细程度,也就是说,在给定的时空测试区域内要有更多、更密集的PIV示踪粒子,
以求得对流场在生间上的更精细的描述,这就一方面要求示踪粒子粒径更小、形状更规则
、球形)、对光的散射性更好、以及激光光源具有更好的单色性和更高的强度或功率,另一
万面对 PIV 图象的高速采集和处理系统也提出了更高的要求[III]第二.要求对流场进行二
淮测试,也就是说对流场中示踪粒子钓二位空间位置以及相应的位移进行三维测量 要实
理这 一月灼 ,在流场照 明光源 沟注谓二有片光源高水扫描和体积}f-阳1月 平用 片光源扫4H
17,
第四届全国流动显示会议 粒子像Ir二维定位的透视成象原理和方法
测量二维流场有两种思路:一种先测量扫描平面内的二维流场.再根据所得的相邻平面的
二维速度场,运用二维流动的连续性方程计算出扫描平而的法线方向上的第三维速度131,从
流场测试的角度看,这基本上属于二维PIV的方法;另一种则是用不同光轴的两个相机取得
不同光轴的PIV图象,根据成象的儿何关系,求出粒子在三维空间的位置 (坐标)和位移
而直接得出一定厚度片光源中的三维流速J41。采用体积光照明时,常用的方
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