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通过 DMM4050 和 DMM4040 万用表的 TrendPlotTM 实现数据日志功能 应用指南 随着嵌入式系统设计中的电路越来越完善、容限越来越 泰克 DMM4050 和 DMM4040 台式万用表提供了一种独 紧张，设计调试和验证过程中出现了许多新的问题。必 特的功能，满足了这一需求。TrendPlotTM 无纸化记录器 须测量短期稳定性、漂移和波动等参数，了解电路在测 模式为实时捕获和显示最小百万分之几的指标变化提供 量期间的行为。如果未能迅速发现难检问题，如间歇性 了简单的方法，而没有耗时的设置或自定义编程工作。 瞬态信号和毛刺，那么可能会使项目耽搁几天或几周的 TrendPlot 利用机载信号处理能力和高性能模数转换器， 时间。 把测量指标的时序转化成容易存储和分析的表格，同时 仍保持信息细节。 为在更长的时间周期内调试难检问题、测量器件行为， 工程师们必须捕获和分析数千个测量数据点，这要求记 录大量的数据或追踪测量趋势，而传统精密数字万用表 是不能做到这一点的。 应用指南 图1. 为说明采样率如何与存储器容量成比例，本样图显示了 图2. 对每个采样间隔，从以较高速度捕获的大型(缓冲存储器) 以10分钟的固定间隔记录的10个样点。每个样点之间的时 样点集中绘制和计算最小值和最大值。这可以捕获主要变化， 间间隔越短，记录的时间跨度越短，反之亦然。 同时仍绘制整体趋势，而不会影响其它指标。 趋势绘制方法 在最简单的数字记录形式下，将使用固定的间隔获得一 有时，一个时点要求测量的不只是一个指标。参数会在 系列“快照”测量。在这种情况下，仪器会对每个间隔 不同时点变化。电源和参考电流或电压可能会随时间变 进行一次测量，然后把它存储在存储器中。非常短的测 化而漂移。振荡器可能会随温度变化。连接器在张力下 量间隔可以捕捉快速变化，但很快会用尽存储器。相反， 可能会开路。环境变化可能会导致不可预测的结果。通 数据点越多，把最后数据集写入存储器所需的时间就越 过在几分钟、几小时或几天内进行多次测量，您可以使 多，进而会影响采样间隔。即使存储器容量非常大，如 用 TrendPlotTM 量化这些变化。可以直接记录 DC 电压、 硬盘或闪存，但数量庞大的测量数据仍会让您感到非常 DC电流、频率和电阻等参数。可以作为rms指标绘制AC 棘手。 电压和电流曲线。通过使用相应的传感器，可以把温度、 高速固定间隔记录容易理解，可以使用相对简单的硬件 压力和湿度转换成 DC 电压。 实现，但在几分钟或几小时内记录数据通常是不可行的。 用户必须选择读取速率，不得不有所取舍。“是要长时间 TrendPlot 在设计验证中的应用 记录呢？还是要查看快速变化？为什么不能两者兼得 呢？” 电源稳定性随时间变化情况 检验电路设计指标 捕获间歇性事件，调试随机关闭(绘制关键测试 点的主要参数图，查找与波动有关的变化) 在趋势测试温度周期中，确定每个测试点关键参 数的趋势 温控晶体振荡器电路测试 温度监测 2 /dmm4050_dmm4040 通过 DMM4050 和 DMM4040 万用表的 TrendPlotTM 实现数据日志功能 图 4. DMM4050/4040 上的 TrendPlot 画面。 图 3. 显示了一段 DMM4050/4040 点阵图形显示画面。每个像