基于LFSR优化的BIST低功耗设计.pdfVIP

第 l7卷 第 1期 电子设计工程 2009年 1月 V01．17 No．1 ElectronicDesignEngineering Jan．2009 基矛LFSR优化的BIST低功耗设计 谈恩 民．王 黎 (桂林 电子科技大学，广西 桂林 541004) 摘要：在 BIST(内建 自测试)过程 中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测 试矢量 ．从而消耗 了大量功耗。在分析 BIST结构和功耗模型 的基础上 ，针对test—per—scan和 test—per—clock两大BIST 类型 ，介绍 了几种基于 LFSR(线性反馈移位寄存器)优化的低功耗 BIST测试方法 ，设计和改进可测性设计 电路 ，研 究 合理的测试策略和测试矢量生成技 术．实现测试低功耗要 求。 关 键 词：内建 自测试 ；线性反馈移位寄存器 ；测试矢量生成 ；低功耗 ；可测性设计 中图分类号：TN710．9 文献标识码 ：A 文章编号 ：1006—6977(2009)01—0061—03 Designoflow powerconsumptionofBIST basedonoptimizedLFSR TAN En—min．WANG Li (GuilinUniversityofElectronicTechnology，Guilin541004，China) Abstrac：DuringtheBISTtesting，LFSR astheTPG giveverylongtestpatternforguaranteeingthefaultcoveragewhichdue toalotofpowerconsumption．AfteranalyzingtheBISTstructureandpowerlossmodel，thepapermakesresearchontheal— gorithm andrealizationoflowerpowerBISTonbaseofoptimizedLFSR aimingattwokindsofBIST architecture：thetest— per—clockandtest—per—scan．Inordertomeettestinglowerpower，thedesignmethodsforlow powerBISTcircuitandreason— ableteststrategyarestudied． Keywords：BIST；LFSR(1inearfeedbackshiftregister)；TPG(testpattern generator)；lowpowerloss；DFT(designofrtest ability) 从而 由电路正常工作时的功能跳变所 引起 的，它包括功能跳 1 引言 变、短路电流、竞争 冒险等 。对于 CMOS工艺来说，目前动态 随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广 功耗是 电路功耗的主要来源。 泛的使用 ，可测性设计 (DFT)的功耗问题 引起了VLSI设计者 对于节点 i上每次开关上 的功耗为 ： 越来越多的关注。因为在测试模式下 电路 的功耗要远远高于 El=1，2S 。。 (1) 正常模式 ，必将带来如 电池寿命 、芯片封装 、可靠性等一系列 式中，S是单周期 内翻转的次数 ， 是节点 i的扇 出， 是最小 问题。