基于故障注入的基准电路故障响应分析.pdfVIP

维普资讯 俞振华等：基于故障注入的基准电路故障晌应分析 基于故障注入的基准电路故障响应分析 俞振华，江建慧 (同济大学 电子信息与工程学院 上海 200092) 摘 要：为了提高集成 电路的成品率，试图采用更简便有效的方法测试芯片，并获得反映电路特性的故障响应率，在进 行 电路功能仿真 (前仿真)或 电路时序仿真 (后仿真)的过程 中，对 电路注入单故障或多故障，然后在 电路存在故障的情况下， 模拟 电路 的行为，获得 电路的故障响应率 。实现 了一个通用的数字电路 “故障响应分析”程序 ，他模拟 电路注入故障，收集模 拟结果 ，通过分析获取电路的故障响应率。 关键词 ：集成 电路 ；故障响应率；单故障；双重故障 中图分类号：TN710 文献标识码 ：B 文章编号：1004—373X(2008)04—006一O3 AnalysisofDatum CircuitFaultResponseBasedonFaultInjection YU Zhenhua，JIANG Jianhui (SchoolofElectronicsandInformation，TonffiiUniversity，Shanghai，200092，China) Abstract：To improvetheyieldofintegratecircuit，tryingtotestchipswith simpleandeffectivewaysandgetthedesired faultresponserate．Whenemulatingthefunctionorthetimingofacircuit，itinjectssinglefaultormultiplefaults．Thenemula- tingthebehaviorofthiscircuitwithfaultinjectedtogetthefaultresponserate．Inthisproject，itimplementsageneralpro- gram foranalysisoffaultresponserateofdigitalcircuits．Usingthisprogram ，wecaninjectthefaultsautomatically，collectthe resultofemulation，thengetthefaultresponserate． Keywords：integratedcircuit；faultresponserate；singlefault；doublefaults 1 研究背景 2 故障与故障注入 随着半导体器件的尺寸不断缩小，集成 电路 (IC)设计 故障覆盖率是给定测试集所能检测的给定电路在给 的规模越来越大 ，芯片集成度越来越高，使得芯片测试越 定的故障模型下的故障数与电路 中含有的故障总数之 比。 来越困难 。为了提高集成 电路的成品率，研究人员把更多 比较常见 的故障模型有 固定型故障和桥接故障，桥接 的精力放在芯片的测试技术上，试图采用更简便有效的方 故障会改变 电路的拓扑结构，本文主要讨论的是固定型故 障。固定型故障主要反映电路或系统 中某一根信号线上 法测试芯片，并获得满足要求的故障覆盖率。 信号的不可控 ，即系统运行过程中该信号线永远固定在某 电路故障覆盖率的评测方法可 以在芯片制造完成后，