第三章-文物的微观结构分析技术.pptVIP

* * 第三章 文物的微观结构分析技术 通过对文物微观结构的观察，能够为人们提供直观的结构信息，所以文物的微观结构的观察和分析是文物研究中常用的、不可或缺的方法和手段之一。 一、光学显微镜 1、体视显微镜 2、偏光显微镜 3、金相显微镜 二、电子显微镜 1、扫描电子显微镜 2、透射电子显微镜 一、光学显微镜 1、体视显微镜： 主要用来检查肉眼不能清晰确认或观察的显微特征。 SMZ1500型体视显微镜 泰克体视显微镜 通常体视显微镜由物镜、目镜、镜筒、载物台和一个附加的照明灯等部分构成，一些较好的显微镜还配有照相系统，可获得被观察物体的显微放大照片。 体视显微镜可通过旋转物镜调节放大倍数, 放大倍数一般为几十~几百倍不等，。 2、偏光显微镜： 偏光显微镜是依据波动光学的原理，观察和精密测定标本细节，或透明物体改变光束的物理参数，以次判别物质结构的一种显微镜。 偏光显微法是通过分辨晶体的颜色、形状、大小、折射率和消光性等光学性质来鉴别颜料的。 型号为Axioskop 40的偏光显微镜 偏光显微镜的成像原理与常规光学显微镜基本相似，所不同的是在光路中插入两个偏光镜。一个在载物台下方，称为下偏光镜，用来产生偏光，故又称起偏镜；另一个在载物台上方的镜筒内，称为上偏光镜，它被用来检查偏光的存在，故又称检偏镜。 凡装有两个偏光镜，而且使偏振光振动方向互相垂直的一对偏光镜称为正交偏光镜。起偏镜的作用使入射光分解成振动方向互相垂直的两条线偏振光，其中一条被全反射，另一条则入射。 正交偏光镜间无样品或有各向同性（立方晶体）的样品时，视域完全黑暗。当有各向异性样品时，光波入射时发生双折射，再通过偏振光的相互干涉获得结晶物的衬度。 将待测样品清洗、干燥后，选择合适截面，用金刚石刀片切割成厚约5mm的薄片，粘贴到玻璃载片上，再经粗细不同的磨料抛光，制成厚约0.03mm的光薄片，置于偏光显微镜下进行观察，以识别样品的矿物组成。 样品偏光镜片的制备和观察： 单偏光状态下的古陶器岩相照片 3、金相显微镜： 金相显微镜是研究金属显微组织的最基本的仪器之一 。金相分析始于20世纪60年代，它是指通过对金属文物显微组织的分析，来研究金属文物中合金生成，冶炼，浇铸以及加工工艺等信息。 金相显微镜的基本原理与偏光显微镜相似，所不同的是金相显微镜增加了入射光附件，可通过垂直的入射光束照射到样品表面，观察样品的微观形态。 青铜、铁器、金银等合金文物因制作加工工艺不同，其金相结构也不同。 金相分析利用此特征对金属文物进行切片，在金相显微镜下，样品的内部组织如晶粒、晶粒边界裂缝成分析出等现象向考古学家提供样品在制作时的冷热处理信息，将样品的金相与已知的铸造金相比较来判断样品是铸造还是铸件经加工而成。 北票喇嘛洞铁锸M20:4 过共晶白口铁 北票喇嘛洞铁锛M170:6黑心韧性铸铁 二、电子显微镜 1、扫描电子显微镜 扫描电子显微镜的原理与成像： 由电子枪发射一定能量的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射（以及其它物理信号），二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。 常用的扫描电子显微镜的结构系统如图所示，主要由五部分组成，分别是电子光学系统、扫描系统、信号检测系统、显示系统、电源和真空系统。 样品的要求： ①样品必须是固体（块状、粉示状均可），样品表面要干净，如含水的样品须先进脱水处理，并要防止样品因脱水而变形，表面污染的则要清洗。 ② 样品的尺寸以能放入样品台上为宜，太大的要切割取样。 ③ 样品要有良好的导电性，对于导电性差的样品如陶瓷、植物、编织品等，在电子束作用下会产生电荷堆积，影响入射电子束斑和样品发射的二次电子运动轨迹，使图像质量下降。因此这类试样在观察前要喷镀导电层进行处理，通常采用二次电子发射系数较高的金银或碳膜做导电层，膜厚控制在20nm左右。 扫描电子显微镜具有许多的优点： （a）试样的制备简单，可以观察试样表面形貌，或在其表面蒸镀或溅射上一层导电薄膜，并不改变原有的形貌特征； （b）放大倍数在几十倍到几十万倍的范围内可连续调节，图像的清晰度高； (c）扫描电镜的景深长，视野大，成像的立体感强，