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Stratix V器件的SEU缓解 9 2013.05.06 SV51011 订阅 反馈 这一章节介绍Stratix®V器件的错误检测功能。您可以使用这些功能来缓解单粒子翻转(SEU)或软错 误。 相关链接 Stratix V器件手册: 已知问题 列出了Stratix V器件手册章节规划的更新。 错误检测功能 片上错误检测CRC 电路使您可以执行以下的操作，而对器件的布局布线或性能没有任何的影响: • 配置期间的CRC错误的自动检测。 • 用户模式中的可选的CRC错误检测和识别。 • 用户模式中可选的内部刷洗。当使能时，该功能自动纠正单比特和双邻近错误。 • 通过JTAG接口特意注入错误来进行错误检测功能的测试。 配置错误检测 当Quartus II生成配置比特流时，软件也计算每个帧的16位CRC 值。根据比特流中的数据帧的数 量，一个配置比特流可以包含多个CRC值。数据帧的长度根据器件的不同而不同。 配置期间，一个数据帧加载到FPGA时，与计算出的CRC值被移进CRC 电路。同时，FPGA中的CRC 引擎计算数据帧的CRC值并且将其与预计算出的CRC值进行比较。如果两个CRC值不匹配，那么 nSTATUS管脚被设置为低电平以表示配置错误。 配置期间，可以通过修改配置比特流或特意地损坏比特流来测试该功能的性能。 用户模式错误检测 用户模式中，配置的CRAM位的内容可能会被软错误影响。这些电离粒子导致的软错误在Altera器 件中不常见。然而，要求器件无差错运行的高可靠性应用可能需要设计应对这些错误。 © 2014 Altera Corporation. All rights reserved. ALTERA, ARRIA, CYCLONE, ENPIRION, MAX, MEGACORE, NIOS, QUARTUS and STRATIX words and logos are trademarks of Altera Corporation and registered in the U.S. Patent and Trademark Office and in other countries. All other words and logos identified as trademarks or service marks are the property of their respective holders as described at ISO /common/legal.html. Altera warrants performance of its semiconductor products to current specifications in accordance with 9001:2008 Alteras standard warranty, but reserves the right to make changes to any products and services at any time without notice. Altera assumes Registered no responsibility or liability arising out of the application or use of any information, product, or service described herein except as expressly agreed to in writing by Altera. Altera customers are advised to obtain the latest version of device specifications before relying on any published information and before placing orders for products or services. 101 Innovation Drive, San Jose, CA 95134