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磁共振弥散加权成像在新生儿缺氧缺血性脑病中的诊断价值
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磁共振弥散加权成像在新生儿缺氧缺血性脑病中的诊断价值
大理州人民医院放射科核磁共振室 671000
【摘要】目的:分析磁共振弥散加权成像在新生儿缺氧缺血性脑病中的诊断价值。方法:选取我院2013~2015年收治的缺血性脑病新生儿患者120例作为研究对象,为120例患者进行磁共振弥散加权成像技术(DWI)和常规T1WI、T2WI的检查,分析磁共振弥散加权成像在新生儿缺氧缺血性脑病中的诊断价值。结果:经过调查发现,磁共振弥散加权成像出现高信号病灶有117例,T1WI异常有54例,T2WI信号异常有27例。磁共振弥散加权成像出现高信号病灶常见于大脑皮层和侧脑室旁白质区和室管膜下,T1WI高信号在脑室周围的白质区较为多见,出血性病变,T1WI会呈现高信号,磁共振弥散加权成像显示无信号。结论:磁共振弥散加权成像用于诊断早期的缺血性脑病,诊断结果非常准确可靠,T1WI、T2WI应用在亚急性期和恢复期,能够较好的显示出患者病灶,因此磁共振弥散加权成像在新生儿缺氧缺血性脑病中具有较高的诊断价值,值得在临床大力推广应用。
【关键词】磁共振弥散加权成像;新生儿;缺血性脑病;诊断价值
【中图分类号】R722.12;R445.2 【文献标识码】A 【文章编号】2096-0867(2016)08-335-02
缺血性脑病主要是围产期的新生儿窒息出现的较为严重的并发症,是造成新生儿死亡或者神经受到损伤的主要原因[1]。临床表现为癫痫,呼吸暂停,昏睡,易怒等没有特异性的表现,患者同时还会出现肌张力减退,不对称减弱等特征,在生长期内会出现智力发育迟缓或者运动功能发育迟缓等后遗症。为了提高对缺血性脑病的临床诊断的准确性,从而对患儿预后进行评估,本文采用磁共振弥散加权成像技术[2]。
1资料和方法
1.1一般资料 选取我院2013~2015年收治的缺血性脑病新生儿患者120例作为研究对象,为120例患者进行磁共振弥散加权成像技术(DWI)和常规T1WI、T2WI的检查。120例患儿中,有男性67例,女性53例,早产儿有44例,足月儿有76例,患儿年龄在4小时~15天之间,平均年龄为(4,3plusmn;0.4)天。为患者采取检查的时间在患者出生6小时内的有4例,6~12小时的又38例,12~24小时的有35例,1~3天的患者有28例,3~7天的患者有10例,7~15天的患者有5例[3]。1.2方法 120例患儿均采用MR进行扫描,然后采用EPI-SE法进行DWI的稻苗,常规的MR横轴位T1WI序列,TR500,TE7.7,层厚在5毫米。横轴位T2WI,TSE序列,TR4000,TE99,层厚5毫米[4]。
1.3统计学方法[5] 应用SPSS11.0统计软件包进行统计学分析,计量资料用(xplusmn;s)表示,采用t检验; 计数资料用X2进行检验,采用%表示,P〈0.05表示统计学有意义。
2结果
经过调查发现,磁共振弥散加权成像出现高信号病灶有117例,T1WI异常有54例,T2WI信号异常有27例。磁共振弥散加权成像出现高信号病灶常见于大脑皮层和侧脑室旁白质区和室管膜下,T1WI高信号在脑室周围的白质区较为多见,出血性病变,T1WI会呈现高信号,磁共振弥散加权成像显示无信号[6]。
病灶大多见于大脑皮层,本组有38例患儿在皮层或者周围的白质区,DWI表现为多发斑点状和条状信号,病灶大多在额颞和顶枕的交界区,其中有15例患者T1WI出现低信号,16例T1WI出现稍高信号,7例T1WI、T1WI未显示信号[7]。见图1。
图1 T1WI、T1WI信号分析(示例图为出生后3天的新生儿。图1:DWI序列,见两侧侧脑室旁白质区多发斑点状高信号灶。图2:T1WI序列,见相应部位稍高信号灶。图3:T2WI序列,见相应部位等信号灶。图4~6:出生2天后的新生儿。 图4:DWI序列,见双侧顶枕叶斑片状高信号灶。图5,6:T1WI、T2WI序列,未见异常信号灶。图7~9与图4~6为同一新生儿6天后复查图像。图7:DWI序列,见双侧顶枕叶斑片状高信号灶。图8,9:T1WI、T2WI序列,见双侧顶枕叶脑沟加深,脑回增宽,T1WI呈稍低信号,T2WI呈稍高信号。)
3讨论
缺血性脑病主要是围产期的新生儿窒息出现的较为严重的并发症,是造成新生儿死亡或者神经受到损伤的主要原因。临床表现为癫痫,呼吸暂停,昏睡,易怒等没有特异性的表现,患者同时还会出现肌张力减退,不对称减弱等特征,在生长期内会出现智力发育迟缓或者运动功能发育迟缓等后遗症。
DWI应用于缺血性脑病,是通过反应水分子在组织内不规则的运动技术,从而对组织中
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