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射频积极电路及传输系统可靠度分析研究I
射頻積體電路及傳輸系統可靠度分析研究
第一年期中報告
計劃編號：94-2215-E-007-031
主持人：金雅琴 清華大學電機系
一、中文摘要 above, the reliability of a receiver system can be
金氧半導體元件在實際電路中會因為操 analyzed. From these results, the circuit
作偏壓的不同，從不同的物理機制(如通道熱 blocks which are most vulnerable to stress
載子效應，FN 穿隧效應等等)產生電性上的 induced degradation and most critical to
衰退。射頻電路的系統由接收端(Receiver)及 degradation of the system performance can be
發送端(Transmitter)所組成，其中包含許多單 identified. The proposed model and
元電路如低雜訊放大器(LNA, Low Noise methodology can then provides directions for
Amplifier) ，混頻器(Mixer) ，壓控震盪器 the circuit redesign to meet both the
(VCO, Voltage Controlled Oscillator) ，功率放 performance and the reliability requirements.
大器(Power Amplifier) 。在本計劃之初，經由
建立金氧半導體元件隨操作時間的電性衰退 三、研究成果
模型，套入上述各個單元電路，藉此來分析 此計畫主要重點在於運用元件衰退模型
元件的衰退對實際電路的效能影響，同時做 來分析射頻電路中各電路單元對時間的衰退
出不同的電路架構在衰退程度上的評比。 影響，進而尋求整個射頻電路收發系統的可
今年度的研究成果即利用各單元的可靠 靠度評比。第一年的研究重點成果為：
度分析結果，來進一步應用在分析接收端系
統上，並藉此結果來探討在整個系統中，哪 (1) 完成射頻電路接收端的系統級可靠度評
些單元電路比較有可靠度的問題。同時針對 比。
該單元電路作可靠度較佳的重新設計。 (2) 根據前項的結果針對LNA 作合乎可靠度
要求的改良設計。
二、英文摘要
With different bias conditions, a CMOS 以下依序介紹各個
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