测试集划分的多扫描链二次测试数据压缩方法研究.pdfVIP

测试集划分的多扫描链二次测试数据压缩方法+ 张磊梁华国 陶珏辉 合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 摘要：本文提出了一种具有普遍意义的多扫描链二次测试数据压缩方法，针对在一些确定位分布不 均的测试集中，相容压缩效果因个别位的存在受到严重影响的问题，提出了解决方案。首先，在基于 多扫描链重新排列的测试集中提取出特定的列，尽量扩大相容性，然后，进行相容压缩；接着将结果 再次重排，通过使用通信协议简单的距离标记法，并结合距离出现的频率特征，实现了对测试集的第 二次压缩。在解压时，无需改变被测试电路的扫描链结构，能高效地还原出原测试集。这种方法有效 地压缩了测试数据，减少了测试时间，从而有效的降低了对ATE的存储器和带宽的要求。对标准电路 的实验结果显示，这种方法明显优于FDR码“J，是一种非常高效的压缩方法。 关奠阐：测试数据压缩多扫描链相容压缩距离标记法 1引 言 随着系统芯片集成度的日益提高，一个系统芯片(SoC)常常包含了多个知识产权(IP)核，而每个核在 测试时都需要施加大量预先计算的测试向量。越来越大的系统芯片测试数据量不仅给传统外部自动测试设 备(ATE)的存储器和带宽带来了严峻挑战，而且也耗费了大量的测试时间。 测试源划分(TRP)技术【1】将一些测试源从自动测试设备转移到芯片，为解决以上问题提供了有效的方 案。它不仅能够降低对存储设备的要求，减少测试时间，而且能降低对测试设备的频率要求，大体可分为3 类：(1)自动测试模式生成(ATPG)算法压缩：对自动测试模式生成算法产生的测试立方进行动态压缩或静态 压缩，但仅依靠该方法很难达到较高的压缩率，还要与其他方法相结合，才可能获得较理想的效果。f2)内 建自测试(BIST)：将测试集嵌入在片上硬件产生的测试序列中，然而，它只能用于设计时就考虑到BIST的 IP核，而现在大量的IP核在设计时都没有考虑到BIST，在SoC中插入这些电路需要大量的重新设计，代 集To压缩成～个更小的测试集TE，把它存储在ATE存储器上。尽管它们具有较好的压缩效果，可在解压 时，却需要在ATE与SoC之间附加一些同步握手信号，通信协议复杂，另外，这类压缩方案采用单扫描链 测试模式压缩，严重影响测试应用时间。 相容压缩技术在测试数据压缩方面有着广泛的应用。多扫描链环境下的相容压缩，本质上是一种静态 压缩技术。像ATPG算法压缩一样，仅依靠相容字的压缩很难达到较高的压缩率。因此，它往往要与其它 一些压缩技术相结合，才能达到满意的结果。在此基础上，人们又提出了基于多扫描链的二次测试数据压 缩方法。首先采用相容压缩实现相容扫描链的合并，然后，将合并后的多扫描链测试模式重排，还原成单 测试向量结构，再对其优化排序，标记出测试向量中的变化位达到了压缩测试数据的目的。实验显示，该 +作者倚介：粱华国(1959一)，男，博士．教授，博士生导师：主要研究方向为：嵌入式系统综合与测试、数字系统设计自动化、 高可靠性的工业控制计算机研究与开发和分布式控制系统等。张磊(t981)，男，硕士研究生{陶珏辉0980一)，男，硕士研究生。 (527)资助 684 计算机技术与应用进展-2006 方法对硬故障集获得了很好的效果，特别是经第一次相容压缩，就已达到了相当大的压缩比。 在混合模式的BIST方法【7。91中，对被测电路用硬故障集检测随机阻尼故障前，需要进行伪随机测试， 然而，大量伪随机模式的产生会严重影响测试时间，对大型工业电路尤为如此。为了解决该问题，我们将 该方法应用于完全测试集，从而免去了耗时的伪随机测试。但是，在一些特殊的测试集中，测试模式所含 的确定位分布十分不均匀，严重影响了压缩效果，如Mintest测试集，第一次相容压缩的效果几乎为零。 为了尽量利用相容压缩，本文对上述方案做了改进，将一些特定的列提取到ROM，相应的位以无关位 填充，从而消除了一些冲突，使一些原本不相容的行变得相容。接着，对测试向量又重新排序，考虑到游 程的频率，采用了一种基于频率的计数编码(FDC)，终于使其适用的测试集从硬故障集扩展到了所有完全测 试集，除去了伪随机模式生成器，以及冗长的随机模式应用时间。本方法结合了多种编码压缩方法，压缩 结果更佳，并且无需改变任何测试电路，其控制测试过程相对简单，适用于包括从