激光聚变靶丸的X光诊断技术研究.pdfVIP

激光聚变靶丸的X光诊断技术 张继彦杨国洪缪文勇丁永坤丁耀南 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心) 摘要本文介绍了X光诊断技术在激光聚变靶丸电子温度、电子密度以及燃料面密度诊断方面的应用。在 术获得了内爆靶丸的收缩比及燃料的初始密度推断出燃料面密度pr=(3．2_4-0．5)mg／cm2。 关键词激光聚变电子温度电子密度燃料面密度X光诊断 一、引 言 在激光间接驱动内爆实验中，由于x光辐射烧蚀压的推动，靶丸被压缩到较高的密度 状态，这种情况下，X射线光谱学诊断方法是诊断内爆靶丸状态参数的少数几种方法之一。 在国外，曾通过在聚变燃料中掺入少量Ar原子作为示踪元素，根据Ar元素K壳层发射的 x光线谱强度比进行电子温度诊断，并利用其谱线展宽进行电子密度诊断¨咱1。与国外的激 光装置相比，国内目前最大的神光II激光装置的三倍频激光能量输出要小一个数量级以 上，能否在实验中观测到Ar的K壳层谱线并诊断靶丸温度是检验内爆靶设计、器件以及实 验诊断能力的重要依据。 在神光II激光装置上，作者采用x射线诊断方法对内爆靶丸的状态参数进行了诊断。 其中，通过在靶丸燃料区掺Ar示踪元素，利用Ar元素发射的k壳层谱线的相对强度比作 宽确定了靶丸芯部燃料区的电子密度；此外，在国内首次采用单能X光照相技术观测到了 内爆靶丸燃料区界面图像。 二、研究内容 l电子温度与电子密度诊断 1)诊断模型 光谱线的相对强度比是等离子体诊断的重要方法。对于局部热动平衡等离子体，其电 离态的原子，那么其谱线强度比与温度的关系为 口：量：鱼盟。口=』=o—二o (1)(1) 12 A2N2 式中，，4，和儿分别是两条谱线的辐射跃迁几率，朋和膨分别是相应的上能态离子密度。该 强度比通常是电子温度的敏感量，常用于电子温度诊断。 一345— 在高密度等离子体中，利用谱线强度比诊断电子温度时需要考察谱线白吸收的影响”…。 对于谱线自吸收，实践中通常采用光学厚度指标；．根据目前典型实验条件下的估算，通常 子密度有关，而与温度关系极小，因此适用于电子密度诊断。本文利用美国LLNL实验室计 区的电子密度。 j一蜘。 夕} 60≯…ip。 ／，’∥’睦卜琶 小’一； ，，：7 。苒 。《； J ， ∥}l ”≥／，‘雠‰吣川舢c。} 嚣二=于崭于霈一{；。专意s 图1 b)光学薄等离子体中Ar的Lyp线与Hep线强度比与电子温度的关系 2)实验测量及诊断结果 间接驱动内爆原理如图2所示，靶丸位于柱腔对称中心，在其塑料靶壳内充有约10个 胶片进行时间积分记录。 图2间接驱动内爆原理示意图 ．．346-- 电子温度的关系曲线(如图1b所示)nI引。 抽3．0332”¨粥¨3．730394．0^1 wwd帅口t帕1rim 图3神光II间接驱动内爆实验中测量得到的Ar‘元素k壳层发射谱 a)曲线可以 电子温度与电子密度。 在实验诊断中，误差主要来源于诊断模型、仪器响应和数据处理三个方面。其中，来 自诊断模型的误差，参考美国利弗摩尔国家实验室的研究结果，可确定小于10％；仪器响 应误差主要包括晶体效率和胶片响应方面的误差，在实验光谱中对晶体效率进行了修正， 胶片响应也进行了修正，对线强度比修