Agilent L 系列多端口机电同轴开关精选.pdf

Agilent L 系列多端口机电同轴开关 L7104A/B/C 和L7106A/B/C 端接型 L7204A/B/C 和L7206A/B/C 非端接型 DC~4 GHz，DC~20 GHz，DC~26.5 GHz 技术概述 以适中价格提供的高性能 多端口开关 ·保证的0.03 dB 重复性确保了精度，并减少整个2 百万个周期工作 寿命内的校准周期 ·不一致的隔离度使测量精度最高，并改善系统动态范围 ·经济的价格将预算约束减至最小 产品概述 在当前的竞争环境下，自动测试系统要求比以往有更高的精度和更 好的性能。Agilent L 系列L7104A/B/C和L7106A/B/C端接型以及L7204A/ B/C和L7206A/B/C非端接型多端口开关在实现更高测试性能所需的插入 损耗重复性和隔离度方面已获重大改善。长寿命、重复性和可靠性通过 减少校准周期和增加测试系统正常运行时间而使购置维护费用降低，是 ATS 测试系统保持长期完整性所必不可少的。 描述 L7104/L7204A ，B ，C SP4T 和L7106/L7206A ，B ，C SP6T 多端口 开头提供了自动测试和测量、信号监测和路径选择应用所需的寿命和可 靠性。创新的设计和细心的工序控制制作出能满足对测试仪器中的高度 可重复开关元件以及转接界面提出的要求的开关。对25 ℃下的2 百万个 周期保证有优良的0.03 dB 插入损耗重复性，这便减少了测量路径中的 随机误差源，并改善了测量的不确定度。开关寿命是生产测试系统、卫 星和天线监测系统以及测试仪器中的一个关键考虑因素。这些开关的长 寿命增加了系统的正常运行时间，并通过减少校准周期和开关维护使购 置维护费用降低。 用于微波（及射频）仪器和系统的高性能多端口开关 ·SP4T 和SP6T 配置 ·磁闭锁 ·对2 百万个周期保证有0.03 dB 插入损耗重复性 优良的隔离度，典型情况下，在26.5 GHz 上 85 dB · ·光电指示器和光电阻断 ·端接端口和非端接端口 ·与TTL/5V CMOS 兼容（可选用） 50½ 终端 射频端口 图1. Agilent L7104A/B/C 和L7106A/B/C 原理图 2 射频端