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红外光谱技术及应用 近代傅立叶变换红外光谱技术及应用 一、红外光谱概况 二、原位分析技术 三、红外光谱技术的应用 §1 基本概念 一、红外光谱的产生和分类 当电磁辐射与物质的分子相互作用时，其能量与分子的电子振动或转动能量差相当时，能引起分子由低能态过渡到高能态发生能级跃迁。结果使某些特定波长的电磁辐射被物质的分子所吸收。如果将透过物质后的电磁辐射用单色器予以色散（或用干涉仪变成相干光再通过FT )使其波长依序排列，测量在不同波长处的辐射强度就得到了吸收光谱。 E=hν E——光子能量 h——普朗克常数 ν——光子频率 光谱范围 红外光区的波长信息 §2 红外光谱仪发展概况 第一代棱镜型IR——棱镜为色散原件分光 第二代光栅型IR——以光栅为色散原件分光 第三代FTIR——基于光相干原理设计的干涉调频付立叶变换分光 获得红外光谱的方式 1、透射红外光谱 普遍使用于气、液、固体状态样品分析，应选择适当的制样方法。使用样品架。 2、反射红外光谱 适用于不透明纸、金属、织物表面涂层化合物分析，要求表面应光滑平整。用ATR附件。 3、漫反射红外光谱 透光性差的粉末、纤维状样品。用漫反射附件。 4、红外发射光谱 不宜作透射光谱分析的物件表面及不透明样品分析。使用发射光谱附件。 §4 红外光谱实验技术 样品制备 a、固体制样方法：卤化物压片法，浆糊法，薄膜法（溶液铸膜，熔融涂膜，热压成膜、热裂解涂膜） b、液体样品制样方法：将液体样品放于不同结构、光程的液体池中。 c、气体样品的制备：将气体装入不同光程长，具有各种功能的气体池中（常规、低、高温加压气体池 §5 谱图解析 获得一张红外光谱图后要根据红外光谱图确定化合物结构，主要依靠前人工作积累的大量标准谱图。查寻方法有二种： 1 、人工查寻：首先根据特征基团频吸收确定化合物类型，然后从索引查出该类化合物的谱图号范围，逐一进行基团频率和指纹频率对照，完全相符者，即能确认为标准谱图所标化合物名称和结构。 2、计算机谱库检索：首先判断被测化合物类型，然后到特定的谱库经计算机检索，最后作出正确判断。 红外吸收峰—吸收谱带的位置及影响因素 红外吸收峰—吸收谱带的位置及影响因素 红外吸收峰—吸收谱带的位置及影响因素 基团频率区和指纹区 （一）基团频率区 中红外光谱区可分成4000 cm-1 ~1300 cm-1和1300 cm-1 ~ 400 cm-1两个区域。 最有分析价值的基团频率在4000 cm-1 ~ 1300 cm-1 之间，这一区域称为基团频率区、官能团区或特征区。区内的峰是由伸缩振动产生的吸收带，比较稀疏，容易辨认，常用于鉴定官能团。 在1300 cm-1 ~400 cm-1 区域内，除单键的伸缩振动外，还有因变形振动产生的谱带。这种振动与整个分子的结构有关。当分子结构稍有不同时，该区的吸收就有细微的差异，并显示出分子特征。这种情况就像人的指纹一样，因此称为指纹区。指纹区对于指认结构类似的化合物很有帮助，而且可以作为化合物存在某种基团的旁证。 基团频率区 1、4000 ~2500 cm-1 X-H伸缩振动区，X可以是O、H、C或S等原子。 （1）、O-H基的伸缩振动出现在3650 ~3200 cm-1 范围内，它可以作为判断有无醇类、酚类和有机酸类的重要依据。 （2）、胺和酰胺的N-H伸缩振动也出现在3500~3100 cm-1 ，因此，可能会对O-H伸缩振动有干扰。 （3）、C-H的伸缩振动可分为饱和和不饱和的两种。 1）、 饱和的C-H伸缩振动出现在3000 cm-1以下，约3000 ~2800 cm-1 ，取代基对它们影响很小。如-CH3 基的伸缩吸收出现在2960 cm-1和2876 cm-1附近；- CH2基的吸收在2930 cm-1 和2850 cm-1附近 2）、不饱和的C-H伸缩振动出现在3000 cm-1以上 苯环的C-H键伸缩振动出现在3030 cm-1附近，它的特征是强度比饱和的C-H键稍弱，但谱带比较尖锐。 不饱和的双键=C-H的吸收出现在3010~3040 cm-1范围内，末端= CH2的吸收出现在3085 cm-1附近。 叁键?CH上的C-H伸缩振动出现在更高的区域（3300 cm-1 ）附近。 基团频率区 2、2500~1900 cm-1 为叁键和累积双键区。 主要包括-C?C、 -C?N等等叁键的伸缩振动，以及-C =C=C、-C=C=O等累积双键的不对称性伸缩振动。 对于炔烃类化合物，可以分成R-C?CH和R?-C ?C-R两种类型， R-C?CH的伸缩振动出现在2100~2140 cm-1附近， R?