热辐射定律及辐射源-光辐射测量在电光源的生产.PPTVIP

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热辐射定律及辐射源-光辐射测量在电光源的生产

测量原理:选定两个窄谱段(原则上是任意的,例如在可见谱段,常在蓝色和红色各选一个谱段),如果待测光源在这两个谱段探测器输出信号的比值与某色温的标准光源的比值相同,那么标准光源的色温值就是待测光源的色温值(图9-19)。 图9-19 双色法测色温 双色法 测量装置:如图9-20所示。光源照射具有朗伯反射特性的白色漫射屏,在离屏一定距离处安置前部有两块滤光片的转动架,一块滤光片透射的峰值波长为0.46?m,另一块为0.66?m。由于测量值是两块滤光片移入测量光路时探测器的读数比,故对光源到漫射屏的距离没有特殊的要求,但距离值也不宜过小。由于两块滤光片透射谱段很窄,待测光源和标准光源在相同的透射谱段上进行比对测量,所以对探测器的光谱响应特性也没有特殊要求,只要在测量谱段上具有足够的响应度。 图9-20 双色法测色温的装置 测量步骤: 1、先求出标准光源在所标定的色温值下探测器的电压读数比(Vs/Vi )标准,如表9-1所示,下标s表示短波滤光片移入光路,下标i是长波滤光片移入光路。这一比值的测量应使标准光源置于离漫射屏不同的距离上。 则待测光源工作在标定电压值(表中为94.5V ),具有与标准光源相同的色温(表中色温为2856K)。 测量步骤: 2、然后将待测光源移入测量光路,边测边调节其灯丝电压,并改变它到漫射屏的距离,使探测器的读数Vi待测和标准光源移入时探测器的读数Vi标准相同,表9-2给出待测光源的测量结果,若 当光源的光谱能量分布特性和黑体相近时,例如白炽灯,利用维恩近似式,可将光源的光谱辐射强度表示成 设滤光片的光谱透射比为τ(λ),探测器的光谱响应度为R(λ),滤光片谱段宽度为Δλ,则探测器的输出信号为 由于滤光片谱段很窄,光谱量可取它们在谱段内的平均值。于是 (3) (2) (1) 式中,Td是待测光源的等效黑体温度(即色温)。 当标准光源和待测光源种类相同时,同理可写出对应的表达式, (4) 两者相除得 或 当待测光源和标准光源种类相同且光谱能量分布和黑体相近时,由已知标准光源的色温以及由测得的(Vs/Vi)d和(Vs/Vi)s,就可求得待测光源的色温值。 改变待测光源灯丝电压,测得一系列(Vs/Vi)d,算出对应的Td,可建立待测光源色温随灯丝电压的关系。 (5) (6) 9.4.2 色温的测量 9.4.3 辐射温度的测量 9.4.1 亮温的测量 9.4 辐射温度的测量 即辐射测温的相对测温误差是发射率相对误差的四分之一。 由辐射温度的定义,得 式中,T是辐射体的真实温度;Tb是其等效黑体温度,即辐射温度。 在测得辐射温度条件下,由已知发射体的发射效率可求得其真实温度。由于发射率的误差造成的真实温度测量误差,可由上式的偏导数来估计,即 9.4.3 辐射温度的测量 图9-21是加了镀金半球前置反射器的辐射测温计结构。在半球顶点处开一小孔,待测表面的辐射能通过物镜会聚在热偶堆上。前置反射器与待测表面接触形成的空腔相当一黑体,其??1,仪器直接测出待测表面的真实温度。 这种仪器用于测量发射率大于0.5的表面,测温范围为 100~400?C,400~800?C和800~1300?C,误差约±10?C。由于镀金半球要和待测表面接触,表面温度较高时,易损坏测量头,故高温时只作短时间接触测量。 图9-21 全辐射测温计 本章小结 光谱辐射度的测量 总辐射度的测量 辐射温度的测量 系统组成 分光装置 光谱测量方法 测量特点 系统组成 测量方法 亮温测量 色温测量 辐射温度测量 1、在用单色仪研究红外辐射源的光谱特性时,为了不引入杂散光,提高测量灵敏度,满足全波段测试要求,应该在辐射源与入射狭缝之间加入一个怎样的光学元件? 2、光学高温计如何测温的? 3、简述双色法测温的方法,需要注意哪些事项? 4、总辐射度量的测量有哪些方法? 小论文 1.太阳辐射照度的测量与研究; 2.路灯中间视觉照度的测量与研究 作业 单色仪的τ(λ)可用已知相对光谱能量分布的光源(如黑体、光谱辐亮度或辐照度的标准灯等)与具有平坦响应的探测器来测得(图9-3) 式中,对于平坦响应的探测器,r(λ)=1。于是,由测得的V(λ),已知的L(λ)以及分光元件的色散特性,可求得单色仪的相对光谱透射比。 2、滤光片 用窄带滤光片作为分光元件时,为避免光源表面辐亮度不均匀对测量的影响,最好不用光学系统,而把待测光源放在距离探测器有一定距离的地方进行测量。 滤光片可做得较大,探测器可在较均匀辐射场中进行测量,所以应采用辐照度。作为分光元件,滤光片置入光路中应当注意: ① 不因放入滤光片而改变光能的传播方向,因为这种变化往往会给测量带来误差,尤其是探测器尺寸较小时。还要注意滤

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