《光电子技术基础》(第二版) 第6章 光电探测技术基础.pptVIP

第6章 光电探测技术基础; 主要内容 ;光电探测技术基础;6.1光探测器性能参数 ;6.1光探测器性能参数;6.1光探测器性能参数;6.1光探测器性能参数;6.2 光电探测方式 ;6.2.1 直接探测与外差探测 ;6.2.1 直接探测与外差探测;6.2.2 两种探测方式性能分析;6.2.2 两种探测方式性能分析;6.2.2 两种探测方式性能分析;6.2.2 两种探测方式性能分析;6.3 光电探测的物理效应 ;6.3 光电探测的物理效应;6.3.1外光电效应——光电发射效应 ;6.3.1外光电效应——光电发射效应;6.3.1外光电效应——光电发射效应;6.3.1外光电效应——光电发射效应;6.3.2 内光电效应 ;6.3.2 内光电效应;6.3.2 内光电效应;6.3.2 内光电效应;6.3.2 内光电效应;6.3.2 内光电效应;6.3.3 光热效应 ;6.3.3 光热效应;6.3.3 光热效应;6.3.3 光热效应;6.4 光电探测器 ;6.4.1 光电探测器类型;6.4.1 光电探测器类型;6.4.1 光电探测器类型 ;6.4.1 光电探测器类型;6.4.1 光电探测器类型;6.4.1 光电探测器类型;6.4.2 典型光电探测器 ;6.4.2 典型光电探测器;6.4.2 典型光电探测器;6.4.2 典型光电探测器;6.4.2 典型光电探测器;6.4.2 典型光电探测器