X射线晶体学(第6章).pptVIP

第六章 点阵常数的精确测定 §6-1 概述 点阵常数（晶胞常数）是晶体结构的最基本参数。 引起点阵常数变化的因素很多，其中主要有：温度、受力状态和化学成分等，即这些条件的变化都会引起点阵常数的变化。因此，可以通过点阵常数的测定来研究物质的结构、晶体缺陷、相变过程中固溶体成分的变化、材料中的应力状态、确定晶体的密度和晶体的膨胀系数等。 利用X射线衍射方法来研究金属、合金和其它晶体物质时，往往都是先测定物质的点阵常数。 利用X射线测定点阵常数是一种间接方法，它的实验依据是衍射图相上各衍射线的位置，即2θ角，然后利用布拉格方程和各个晶系的面间距公式，求出该晶体的点阵常数。 现在的问题是找出利用那一根衍射线条确定的值更接近真实的值。 由布拉格方程知，要想得到精确的d值和点阵常数，首先需要得到精确的sinθ值。从sinθ～θ关系图可知，在不同的θ角度范围内，当θ改变同一角度Δθ时，其对应的变化量Δsinθ值是不同的，θ越接近90°，Δsinθ值就越小。因此，在θ接近90°的范围内测量θ角度时，尽管θ值的精确度不高，但仍然可以得到相当精确的sinθ值，从而使所求的点阵常数的精确度也相应提高。 在实际工作中，无法观察到θ=90°时的衍射线条（峰），通常选择比较合适的辐射，使衍射花样中θ＞70°的区域内出现尽可能多的强度较高的衍射线条（峰），最后一条衍射线越接近于90°，得到的点阵常数就越精确。 §6-2 德拜法的误差来源　 一、试样偏心引起的误差 在装试样时，尽管进行了仔细的对中，但由于相机本身的精度不够以及人的眼睛的误差，很难避免试样的轴心和相机的真正轴心出现偏差，这就造成了试样的偏心，引起了测量值的误差。 如图，试样相对于相机轴的任何偏心op，都可以分解为垂直于入射线方向和平行于入射线方向的两个分量op1和op2。 由图可知，试样垂直方向的偏心使衍射线条由A、B移到了A′、B′处，一般情况下，这种偏差都较小，而且 和 近似相等，因此，常常将这种偏心忽略。 试样在水平方向的偏心可使衍射线间距离比实际的增大或减小 。对于背射区，水平偏心引起的间距变化值为Δ2L′，则 由于OP2远小于相机半径R，故 其相应的角度误差 二、吸收引起的误差 衍射线条在底片上的位置与 试样对X射线的吸收有很大的关 系,对于吸收系数很小的试样， 衍射线峰位基本不变，在试样 吸收较强的情况下，由于只有 试样表面一层物质参加衍射，结果将使衍射线（峰）位移或分裂。 试样无吸收时的峰位在OP处，由于吸收使最大位置移到了O′P′处，相当于试样在水平方向的偏心。这样由于试样吸收和偏心，所引起的角误差为 3、相机半径不准引起的误差 如果相机半径R有偏差，以及 安装底片时，底片与相机壁间有 一些间隔，都可能引起误差。 假设相机壁圆筒的半径应为R， 而实际为R+ΔR，由半径误差ΔR 所引起的角度误差为 由于ΔR＜＜R，所以R+ ΔR≈R，则 四、底片均匀伸缩引起的误差 底片在冲洗过程中会发生均匀伸缩而产生角误差。 这时4φ所对应的弧距由2L变为2(L+ΔL)，从而使φ产生角误差为 五、总的角误差 4种原因所引起的角度误差为： 因为 ，微分后得 所以 因为 ，所以 ， 所以 在高角区,当θ接近于90°时,φ很小 ，这样上式变为 对同一张底片，各种误差的影响相同，因此.可以用一个常数k来表示 所以 在立方晶系中 两边取对数并微分得 所以 六、X射线折射误差 X射线从一种介质进入另一种介质时产生折射现象。由于折射率非常接近于1，所以一般不考虑它的影响。在高精度测量时，必须对布拉格方程作折射校正。经过折射校正后的布拉格方程为 对立方晶系 是一个很小的量， 式中 ，n为每立方厘米介质中的总电子数，m为电子电量，e为电子电荷，c为光速，λ为X射线波长。 §6-3 德拜法的误差校正 一、采用精确的实验技术 1、为了消除吸收的影响，试样的直径做成小于0.2mm，必要时可以用面粉等将试样加以稀释。 2、为了消除试样的