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利用激光衍射测量细丝直径的研究
现代制造技术与装备 2006 3 172
年第 期 总第 期
利用激光衍射测量细丝直径的研究
张立宝 孙 颖 杨 杰 沈精虎 张凤生
(青岛大学机电工程学院,青岛266071)
摘 要:本文利用激光衍射的方法对细丝直径进行测量。该系统中CCD视频信号被逐位进行模数转
变,变为相应的数字量。利用最小二乘法对图样进行局部曲线拟合,确定暗纹间距S。因而,衍射测径的精
度不再受CCD像元中心距大小的限制。
关键词:激光衍射测量 CCD(电荷耦合器件)最小二乘法
LaserDiffractionMeasuringSystemforFineDiameter
ZHANGLibao,SUNYing,YANGJie,SHENJinghu,ZHANGFengsheng
(CollegeofMechanicalElectronicEngineering,QingdaoUniversity,Qingdao266071)
Abstract:Usinglaserdiffractiontomeasurethefinediameter.Inthesystem,thevideo-signalofCCDiscon-
vertedbit-by-biteintodigitaldata,andtheleastsquaremethodisusedtofitthelocalcurveofthediffractionpat-
ternsothatthespaceSofthetwoadjacentdarkstripesofthediffractionpatterncanbedeterminedmoreaccurately.
Consequently,themeasuringaccuracywillnolongerberestrainedbythecenter-to-centerdistanceofthepicture
elements.
Keywords:Laserdiffractionmeasurement,CCD(ChargeCoupledDevice),Leastsquaremethod
引 言
对于尺寸很小(10~500um)的各种细丝、狭缝、
微小位移、微小孔等的测量,直接采用几何光学放大
成像法或接触式测量仪器已无法满足高精度的测量
要求。原因:(1)若采用光学放大成像法,由于被测尺
寸很小,光的衍射效应加剧,导致测量误差增大。(2)
若采用各种接触式测量法,由于接触应力将使得被 图1衍射测量系统构成简图
测件产生变形,从而产生较大的测量误差。本项研究 d=Kλf/X=λf/S (2)
K
旨在解决此类微小尺寸的非接触、高精度的动态测 —被测细丝
上式为衍射测量基本公式。式中d——
量问题。 直径;K———衍射图样的暗纹级数;λ———单色光波
1衍射测径原理 长;f———为成像物镜焦距;θ———衍射角,即被测细
测量系统构成如图1所示。单色平行光垂直照 丝到第K级暗纹的连线和光线主轴的交角;X———
K
射被测细丝。经细丝衍射后,在成像物镜的焦平面上 第K级暗纹到光轴的距离;S———暗纹间距,S=X/K,
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