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东北大学15秋学期《现代材料测试技术》在线作业1 试卷总分：100 测试时间：-- 一、单选题（共10道试题，共50分。） 1.对样品进行表面形貌分析时应使用（ ）。 A. X射线衍射（XRD） B. 透射电镜（TEM） C. 扫描电镜（SEM） 满分：5分 2. 能谱仪的分辨率比波谱仪（ ）。 A. 高 B. 低 C. 相同 满分：5分 3. 塑料一级复型的分辨率一般只能达到（ ）。 A. 5nm左右 B. 10nm左右 C. 20nm左右 满分：5分 4. 在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（ ）。 A. 二次电子 B. 背散射电子 C. 俄歇电子 满分：5分 5. 具有fcc结构晶体的（100）、（110）、（111）、（200）、（210）、（311）对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上，而晶面（ ）将出现反射。 A. （311） B. （200） C. （210） D. A和B。 满分：5分 6. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。 A. 三条 B. 四条 C. 五条 D. 六条。 满分：5分 7. 把透镜像平面允许的轴向偏差定义为（ ）。 A. 球差 B. 景深 C. 焦深 满分：5分 8. 样品微区成分分析手段包括( ) 。 A. WDS、EDS 和XRD B. WDS、EDS和EPMA C. TEM、WDS和XRD 满分：5分 9. X射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入＝（　 　）。 A. 1.24/V(千伏) nm B. 12.4/V(千伏) nm C. 12.4/V伏 nm 满分：5分 10. 倒易点阵（ D ）。同济大学四平路 A. 是晶体的真实点阵 B. 是实际晶体点阵经一定转化而得到的抽象点阵 C. 中倒易矢量[hkl]*与正空间（hkl）晶面平行 D. 中倒易矢量[hkl]*的模等于正空间（hkl）晶面间距的倒数 满分：5分 二、判断题（共10道试题，共50分。） 1.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 2.晶体的电子衍射斑点是相应晶体倒易点阵二维截面的放大象。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 3.在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 4.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 5.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 6.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 7.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 8.透射电镜成像系统中，若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作；而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 9.经滤波后的X射线是相对的单色光。 A. 错误 B. 正确 满分：5分 10.当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。 A. 错误 B. 正确 满分：5分15秋学期《现代材料测试技术》在线作业2 试卷总分：100 测试时间：-- 一、单选题（共10道试题，共50分。） 1. 在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做（ ）。 A. 二次电子 B. 背散射电子 C. 俄歇电子 满分：5分 2. X射线连续谱中存在一个短波极限，其波长入＝（　 　）。 A. 1.24/V(千伏) nm B. 12.4/V(千伏) nm C. 12.4/V伏 nm 满分：5分 3. 透射电镜的两种主要功能是检测（ ）。 A. 表面形貌和晶体结构 B. 内部组织和晶体结构 C. 表面形貌和内部组织 满分：5分 4. 把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的（ ）。 A. 景深 B. 焦深 C. 球差 满分：5分 5. 倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的（ ）。 A. 一个点 B. 一个晶面 C. 一组晶面。 满分：5分 6. 据Ewald图解可知，满足衍射条件的晶面倒易点阵，必落在半径为（ ）的反射球面上