材料现代研究方法章宏观应力测定教学教材.pptVIP

材料现代研究方法章宏观应力测定教学教材.ppt

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第七章 宏观应力测定;第一节 引言 内应力可分为三类: 第一类(宏观内应力):应力在整个工作或较大区域内 取得平衡。 第二类(微观应力):晶粒范围(晶粒、亚晶粒之间) 第三类(超微观应力):晶格畸变。 应力存在 ?(在X射线作用下)衍射花样改变 第一类内应力:使衍射线位移。 第二类内应力:使衍射线变宽。 第三类内应力:使衍射线强度减弱。;本章限于介绍宏观应力的测定 应力测定的用途: 1、检查表面强化处理工艺 2、预测零件疲劳强度的储备 3、控制切削加工 4、检查消除应力的工艺效果 X法测定内应力的特点: 1、是无损(非破坏性)的检验方法 2、可测定表面层(10-35?m)的应力 3、可测局部小区域的应力 4、可将一、二、三类内应力分别测得 5、可测多相物质中各相的应力;第二节 宏观应力测定的原理 在应力作用下某晶面的面间距变化导致衍射线的位移,从而可计算出应力的大小。 一般X射线测量应力都是表层应力,所以基本是平面应力状态。 一、假设 1、应力沿深度方向的分布是均匀的。 2、表面法线方向正应力为零。 3、在与表面平行的平面上切应力为零。 所以为平面状态。;二、在平面应力状态下任意方向的弹性应变;由广义虎克定律:;三、应力计算公式 d0:无应变时的面间距 d??:有应变时的面间距 ;两边对sin2?求导: 所以:;K:常数 0 若 ?? 0 压应力 若 ?? 0 拉应力;第三节 宏观应力测定方法 一、设备 主要多用两种 1、衍射仪-小样品 20mm 主要进行理论探讨。 2、应力测定仪-直接在零件上测定,具有实际意义(若样品很大,不能锯成小块,应力要释放就不能代表原来的应力状态) 二、测量方法 1、双入射法 0-450 法 衍射仪 取?1 = 0o ?2 = 45o 两角度的 ??? 从而由二点 确定 即 ??? - sin2 ? 的斜率 ;?:是(HKL)法线与表面法线的夹角。 多晶体试样肯定存在与表面夹角为?的(HKL)。;第四节 应力测定中值得注意的问题 一、辐射和衍射晶面的选择;选择靶和晶面的原则是得到尽可能高的 2? 其次考虑背 底强度。 如: 铁 正火钢 选 CoK? (310)晶面 2?=161.8o 淬火钢 选 CrK? (211)晶面 2?=156.4o ;三、用最小二乘法求 “ 2??? - sin2 ? ”直线的斜率。 由最小二乘法:;令 x=sin2 ? y=2??? 当采用sin2 ? 4点法时 应用衍射仪 ? = 0o、15o、30o、45o D0 =-1.3606 D15= -0.9143 D30=0.3048 D45=1.9701 应用时 M=?D y= ?D? 2??? 应用应力测定仪时 D值随所选的靶和晶面而不同, 如 当采用 CrK? 照射铁 (211)时 ?=11.8 ? = 11.8o、26.8o、41.8o、56.8o D11.8 =-1.2322 D26.8= -0.5811 D41.8=0.3907 D56.8=1.4226;四、试样状态对应力测定的影响 1、表面状态 为消除表面污染(表面污垢、氧化皮或涂层等),除非测量加工影响层的应力外,须进行: (1) 用锉刀或粗砂纸除去氧化皮。 (2) 用电解抛光。 2、晶粒大小的影响 晶粒过大使参与衍射的晶粒数目减少,使衍射强度不稳定,一般要求 D30?m。如晶粒较大须增大X射线照射面积或使试样或X光回摆。当D100-200?m测量将发生困难。晶粒过小将使衍射线变宽,使测定精度下降。;3、择尤取向的影响 有择尤取向(织构)的材料, 2??? - sin2 ? 没有线性关系,衍射峰强度强烈依赖于试样表面法线与反射晶面法线的夹角?,固常规的入射角已不适用。;

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