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2.1.集中趋势(精度)  总体平均值μ =(X1+X2+…Xn) / n 样本平均值X=(X1+X2+…Xn) / n 2.2.离散趋势(准度)  总体标准差(δ) = (Σ(Xi-μ) / (n)) 样本标准差(S)= (Σ (Xi-X) / (n-1)) 极差(R) =MAX值-MIN值 4.2.决定控制图的种类及其控制上下限:(1)计量值控制图: 5.3.控制图使用前时之注意事项: (1)现场作业应完成标准化作业 (2)决定欲控制项目:品质特性,抽样数量及方式. (3)控制界限不可以规格界限 specifications limit替代. (4)制程控制作得不好,控制图形同虚设,要使控制图发挥效用,应使产品制程能力之Cpk值大于1以上.  (5)如有任一点超出控制界限,亦应采取对策,因其异常原因可能来自: A.量具的失灵 B.良品的判定方法有误 C.制程已变动至更佳之组合,可作制程改善之参考 6.5 Cpk 控制 1，调整过程加工的分布中心， 减少中心偏移量 通过收集数据， 进行统计分析， 找出大量连续生产过程中由于工具磨损， 加工条件随时间逐渐变化而产生偏移的规律， 及时进行中心调整，或采取设备自动补偿偏移或刀具自动调整或补偿等 根据中心偏移量，通过首件检验，可调整设备，刀具等的加工定位装置 改变操作者的孔加工偏向下差及轴加工偏向上差大的大侵向性加工习惯，以公差中心值为加工依据 配置更为精确的量规，由量规检验改为量值检验，或用高一等级的量具检测 6.5 Cpk 控制 2，提高过程能力，减少误差程度 修订工序，改进工艺方法 检修，改造或更新设备 增添工具工装 改变材料进货周期 改进现有现场条件 对关键工序的操作者进行技术培训 加强现场的质量控制 6.5 Cpk 控制 3，修订公差范围 其前提条件是必须保证放宽公差不影响质量 在工序加工分析时， 减少中心偏移量的防误措施， 在技术上，操作上较易实现， 同时也不必花太多人力，物力，财力， 因此把它作为提高过程制造能力的首要措施 只有当中心偏移量趋近于0，而CP值仍然小于1时，才能考虑提高Cpk，减少过程加工的分散程度或放宽公差。 前提是必须不影响质量，不影响用户实用效果 * * ---By Chengly 统计学及Cpk基础知识 程立玉 2009-6-30 目录 1.统计学基本概念 2.统计符号的认识 3.控制图基本概念 4.控制图建立步骤 5.控制图的判读性 6.Cpk制程能力概念与评价 7.习题与练习 1.统计学基本概念 1.2.自然界中很多都可借由统计的观念来分析:例如:某班上的身高,体重,基隆港每年夏季老鹰数量…..等,皆可作分析.而且数据分析结果大多呈正态分布形态 1.1.统计学的定义：有关数据的收集，分类，分析和根据数据作推论的一门科学. 1.3.例子: 某30人国小六年级全班数学成绩如下: 45,62,75,55,77,82,78,89,100,58,96,78,67,75,83,76,87,80,86,89,100,62,58,75,88,56,67,62,63,75 μ(总体平均值) =74.8 (2)R(极差)=MAX值-MIN值=100-45=55 (3)总体标准差(δ) = (Σ (Xi-μ) / (n)) =14.01 2 (4)可画出直方图:首先将分组组数为6组(10分为一组) 标准正态分布图: -3δ +3δ μ 在內概率:99.73% 控制下限UCL 控制上限LCL μ -2δ +2δ 在內概率:95.45% 控制上限LCL 控制下限UCL α/2 α/2 2 2 2.统计符号的认识 为何总体的标准差与样本标准差公式中的分母 样本标准差会(n-1)，而总体标准差只有n. 因为总体是指全部的资料,而样本是指从总体抽样的部分资料,经用点估计法求证可得出此两种母体和样本的标准差会相等. 2.3.例子(统计的实用原理) 有两台射出成型机,已知其产品长度规格为25+/-5cm, 请问哪一台机台之品质较佳? σB= 1.6 μB= 25 27 26 25 24 23 B σA= 4.5 μA= 25 25 29 21 20 30 A 一.计算结果如下: (1)样本平均值的计算 A机台平均值(XA) =25cm B机台平均值(XB) =25cm (2)样本标准差的计算 A机台标准差(SA) =4.53 B机台标准差(SB) =1.58 二.结论 由A,B两机台的样本标准差得知,B机台离散趋势标准差最小(样本标准差是越小越好，准度越高),故B机台的稳定性最好. 3.控制图的基本概念: 3.1.控制图是一种图形表示工具,用来监