其它仪器分析法简介.PDFVIP

9.其它仪器分析法简介 9.1 原子发射光谱法 原子发射光谱法是根据试样中被测元素的原子或离子， 在光源中被激发而产生特征辐射， 通过判断这种特征辐射波长及其强度的大小，对各元素进行定性分析和定量分析。它具有样 品用量少，应用范围广且快速、灵敏和选择性好等优点，主要用于冶金、地质、石油、环保、 化工、新材料、医药、卫生等方面的样品分析。 9.1.1 基本原理 9.1.1.1 原子发射光谱的产生 原子发射光谱是由于原子的外层电子在不同能级之间的跃迁而产生的。利用物质的原子 发射光谱来测定物质的化学组成的方法，称为光谱分析法或称为发射光谱分析法。在正常情 况下组成物质的原子是处于稳定状态的，这种状态称为基态，它的能量是最低的。但是，当 原子受到外界能量（如电能、热能或光能）作用时，原子的外层电子就从基态跃迁到更高能 级上，处于这种状态的原子称为激发态。使原子从基态跃迁到激发态时所需的能量称为激发 -8 电位，以电子伏特 （eV）为单位。处于激发态的原子很不稳定，约经 10 s 后，原子即恢复到 正常状态，这时它便跃迁回基态或其他较低的能级，在电子从离原子核较远的轨道跃迁到离 核较近的轨道的过程中，就释放出多余的能量，这部分能量以光的形式辐射出来，因此就产 生发射光谱。发射光谱的能量可用下式表示： △E=E -E h  n h c  (9-1) 2 1 l  式中 E 为高能级的能量；E 为低能级的能量；h 为普朗克常数；n 及λ分别为发射光的频 2 1 率和波长；c 为光速。从式 9-1 可知，每一条发射光谱的谱线的波长，和跃迁前后的两个能 级之差成反比。由于原子内的电子轨道是不连续的（量子化的），故得到的光谱是线光谱。 因为组成物质的各种元素的原子结构不同，所产生的光谱也就不同，也就是说，每一种元素 的原子都有它自己的特征光谱线。光谱分析就是检测这些特征谱线是否出现，以鉴别某种元 素是否存在，这是光谱定性分析的基本原理。 同样，在一定条件下，这些特征光谱线的强弱与试样中欲测元素的含量有关，通过测量 元素特征光谱线的强度，可以鉴定元素的含量，这是光谱定量分析及半定量分析的原理依据。 所以，发射光谱分析的主要过程是在外加能量的作用下，使试样变成激发态气态原子，随后 将激发态原子所产生的辐射经过摄谱仪器进行色散分光，形成光谱图；最后根据所得光谱图 进行光谱定性分析或定量分析。 9-1 9.1.1.2 谱线强度及其影响因素 （1）谱线强度 原子的外层电子在 I、J 两个能级间跃迁，其发射谱线强度 II，J 为单位时间、单位体积内 光子发射的总能量。光谱线强度与元素浓度之间存在如下关系，即所谓的罗马金-赛伯经验公 式：  I = Ac b  (9-2) 式中，b 是自吸收系数；I 是谱线强度；c 是元素含量；A 是发射系数。 发射系数 A 与试样的蒸发、激发和发射的整个过程有关，与光源类型、工作条件、试样 组分、元素化合物形态以及谱线的自吸收现象也有关系，由激发电位及元素在光源中的浓度 等因素决定。元素含量很低时谱线自吸收很小，这时 b=1，元素含量较高时，谱线自吸收现 象较严重，此时 b1。因此实际使用过程中，往往采用罗马金公式的对数形式，这样，只要 b 是常数，就可得到线性的工作曲线。由此可见，在一定条件下，谱线强度只与试样中原子浓 度有关，这正是原子发射光谱定量分析的基础。 （2）影响谱线强度的因素 影响谱线强度的因素主要有以下几个方面： ①激发电位 激发电位增高，处于该激发态的原子数将迅速减少，因此谱线强度将减弱。 ②跃迁几率 所谓跃迁几率是指电子在某两个能级之