卓越的ICP-OES光学设计带来无与伦比的分析速度和性能-Agilent.PDFVIP

卓越的 ICP-OES 光学设计带来无与伦比的 分析速度和性能 技术概述 5110 ICP-OES 前言 Agilent 5110 ICP-OES 将垂直炬管、独特的双向观测和同步双向观测前置光路、 最先进的中阶梯光栅光学设计，以及创新的 CCD 检测器技术集于一体。5110 ICP-OES 高效且高度优化的光学设计采用了图像映射技术 (I-MAP) 和自适应积分 技术 (AIT) 。这一组合能提供独特、真正的全谱直读测量、全波长覆盖，实现无 可匹敌的元素分析速度和性能，且无需多个检测器或多条入射狭缝。 构的二维光学影像，与固态检测器 像素阵列的完美结合， 全谱直读 ICP-OES X-Y 使得 ICP-OES 获得了极大的变革。因此随着固态检测器的 全谱直读 ICP-OES 仪器集成了固态检测系统，包括电荷耦 引进，中阶梯光栅多色仪在 ICP-OES 中的使用也越来越普 合器件 (CCD) 和电荷注入器件 (CID) 检测器，基本上取代 及。等离子体中生成的光学发射谱线通过前置光路进入入 了传统的顺序扫描 ICP-OES 仪器。固态检测器和 ICP 的结 射狭缝（或者某些情况下，依次通过多条入射狭缝），然后 合，可提供以下优势： 聚焦到衍射光栅上。光栅反射的各种衍射级基本上是叠加 的，并且经过棱镜分光，产生了两维中阶梯光栅图像。 • 更快的分析时间、更高的样品通量以及更低的使用维护 成本 5110 ICP-OES 使用的中阶梯光栅多色仪（图 ）的独特之 7 • 更高的数据完整性，使用多条发射谱线测量元素以进行 处在于，它能够获得单一的中阶梯光栅图像并投射到单一 数据确认，并且无需花费额外的时间 的检测器上，从而带来出色的分析速度、精密度和准确性。 无需采用会影响分析性能以及通常需要进行单独顺序测量的 • 更高的准确性和精密度，同步内标及背景校正，减少了 多个检测器或多个入射狭缝光学元件，即可实现全波长覆盖， 仪器的漂移 并且大大减少了分析时间。 此外，CCD/CID 技术为强大的软件功能的开发提供了可能， 5110 的出色光学分辨率（图 和表 ）通过采用更高的优 1 1 这些功能可大大简化操作，包括仪器优化、背景校正、分析 化衍射级得以实现，这也是中阶梯光栅光学设计的优势所在。 物测量时间和样品清洗的完全自动化。 大多数 ICP-OES （配有固态检测器）制造商称这类系统为 “全谱直读”系统。然而，所谓的“全谱直读”仪器之间的 样品测量时间可能相差很大，并且会根据所选的测量波长数 发生变化，甚至可能根据浓度/所选波长的信号强度而改变。 这通常与制造商在光学系统和检测器设计中所采用的方法、 检测器获得信息以及不同处理方式有关。 Agilent 5110 ICP-OES 是唯一一款可以在全波长范围内提 供真正的、性能一流的全谱直读测量的仪器。 卓越的光学设计 大多数现有的全谱直读 ICP-OES 仪器使用中阶梯光栅多色 仪对等离子体中生成的分析物发射谱线进行分离并在检测