[建筑]KB成品检验规范D版.doc

1. 目的 作为品管生产人员,检验与判定之标准和依据,以致使生产之产品符合客户之品质要求. 2. 范围 本厂生产之各机种键盘. 3. 参考资料 镭射印刷字符检验规范　　　　　　　　 XT-QRA-3029 Laser辉度计操作规范　　　　　　　　 XT-QRA-3028 耐磨测试规范 XT-QRA-3074 粘附力测试规范 XT-QRA-3073 4. 定义 4.1 Major: 主缺点. 列为批退之依据, 是可能引起键盘功能失效或降低产品使用性的缺点, 这样一些 缺点会被客户或最终用户拒收. 4.2 Minor: 次缺点. 是可能不会减少产品的实际使用性或者不符合标准但对产品使用性或操作无影响的缺 点.这样一些缺点可能不会被客户或最终用户拒收. 内容说明： 5.1. 检验条件与工具. 5.1.1功能测试 将Keyboard 直接连接到计算机上,使用文管中心正式发行的测试软体进行测试. 5.1.2外观检验 I)角度: 眼睛与被测物成0°~45° II)距离: 45-60cm III)光源：40W*2日光灯 5.1.3 利用计算机, 放大镜，照度计，辉度计，读码器,厚薄规, 污点标准Film. golden sample 及各机种Layout film、CRL、BOM 、ECO等进行检验. 5.2. 不良判定:不良品分Maj Min，累计三个Min作为一个Maj执行相关动作。具体如下表之标准说明. 检查项目 标准说明 Major Minor 1. 整体外观 1.1上下盖组合后,间隙段差大于0.5mm; wireless K/B段差大于0.3mm. * 1.2 上下盖卡椎未定位. * 1.3 上下盖组合后,平置于玻璃平台下盖K/B任一端,距玻璃平台高度 * 间隙大于0.4mm(包括撑幵脚架时的距离)。出往日本的机种不能大于 0.3mm. 1.3.1下盖凸点与水平玻璃间距中拱不能大于2.0mm.　　　　　　　　　　　　　* 1.4 正面盖刮伤或污染不能3*0.25mm,侧面刮伤或污染不能5*0.25mm, * 背面刮伤或污染不能7*0.25 mm. 且5公分内不有两点. 1.5 正面盖污点直径不能0.4mm,侧面不能0.7mm,背面不能1.0mm. 且 * 5公分内不得有两点. 1.6 上盖Logo边距2cm内,不允许有任何污点,刮伤. * 1.7 上盖Logo和上盖其它印刷的内容、颜色、形状、位置错误及Logo漏印. * 1.8 上盖Logo印刷断字超过字体的1/3, 毛边大于0.15mm. * 1.9 上盖其它印刷之字符断字有超过字体的1/3,毛边大于0.15mm. * 1.10 上盖顶白,上盖有裂痕或破损. * 1.11 铭板Logo错误,或铭板漏贴,反贴. * 1.12 铭板污染,刮伤;铭板贴歪有超出边框,或字体印刷模糊. 　 * 1.13 铭板字体色泽与样本不符. * 1.14 Keyboard上