确保分析仪表系统提供准确的结果–第2部分校准分析仪-世伟洛克.pdfVIP

确保分析仪表系统提供准确的结果 – 第 2 部分： 校准分析仪 作者：Dean Slejko 和 Tony Waters 在许多分析仪表系统中，分析仪都不能提供绝对测量，而是以 整。之后，在分析工艺样品时，分析仪读数的准确度将取决于 通过校准确定的设置为基础提供相对响应。校准是一个关键而 校准过程的准确度。因此，我们必须知道校准中的误差或污染 又容易出现较大误差的过程。校准分析仪时，我们让一种已知 是如何引入的、什么情况下校准能够解决、什么情况下校准不 成分和数量的校准流体流过分析仪来测定其成分浓度。当测量 能解决所发现的分析仪性能问题、大气压力或温度波动如何会 结果与校准流体的已知含量不一致时，就对分析仪进行相应调 使校准失效、何时需要、何时不需要校准。 系统设计 系统构造不正确是一个常见校准问题。很多情况下，校准 图 1 。在这种构造中，校准气体 流体都被错误地连接到流选择阀系统的下游而没有利用双 被错误地连接到流选择系统下游 关断和排放 (DBB) 构造（图 1 ）。较好的校准流体接入位 而没有利用双关断和排放组件。 置是通过样品流选择系统，如图 2 所示。样品流选择系统 用于快速更换样品流并确保不存在交叉污染危险。在图 1 和图 2 中，样品流选择系统的每一个流都配备了两个关断 阀和一个排放阀（用于排放），以确保在同一时间有且仅 有一个流进入分析仪。这些年来，流选择系统已经从由传 统元件构成的双关断和排放构造发展为小型模块化系统 （新型取样/传感器计划，ANSI/ISA 76.00.02 ）。这种系 统的效率非常高，其吹扫时间短、阀门驱动压力低、安全 性能好，并且流通能力大、流间压力降稳定（因此样品抵 达分析仪所需的时间是可预测的）。 流选择系统最大程度地降低了校准流泄漏进入样品流的可 能性。不过，有些技术人员会绕过这套组件而把校准流体 连接到尽可能靠近分析仪的位置，以节约昂贵的校准流 体。当仅使用一个球阀时（如图 1 所示），这种节约校准 图 2 。如该构造中所示，校准气 流体的做法可能会导致分析仪读数出现偏差。分析仪可能 体最好通过一套使用双关断和排 会正确校准，但是总是存在少量校准气体泄漏进入样品流 放组件防止污染的样品流选择系 并漏过测量的危险。 统接入。 1. 在有些应用场合，美国 EPA 要求在取样系统的较早位置（通常 不过，在需要流经整个取样系统时，将需要较多数量的校准流 靠近探头）接入校准流体。其理由是，校准流体必须经历与样品 体。因此，许多设施不能接受这种方案就不足为奇了。一种不 流一样的全部可变因素。这种理论是正确的，而且，这种装置能 错的折衷做法是，让校准流体通过流选择系统，并让校准流体 够很好地估计样品从探头流到分析仪所需的时间。正如本系列文 专用一个流。这样不仅能够最好地保证校准流体在不受样品流 章的第一篇文章所述，人们经常低估或不知道这段时间。 污染的条件下抵达分析仪，而且，在不用的时候，两个关断阀 还可防止校准流体污染样品流。利用小型模块化平台可以把所