[工学]粉体工程第5-6学时.pptVIP

* (2)工作原理 悬浮在电解液中的颗粒，通过一小孔时，由于排出了一部分电解液而使液体电阻发生变化，这种变化表现为颗粒体积或直径成正比的电压脉冲，电子仪器自动记录下粒度分布。 * 有颗粒时单元的电阻 无颗粒时单元的电阻 仪器对脉冲计数并归档，即可计算出有关粒度参量 * (3)特点 速度快，精度高，统计性好，完全自动化。但测量范围下限取决于小孔直径、测量电压脉冲灵敏度和噪声干扰。 * 1.3.5气体吸附法 气体吸附是测量和研究固体表面结构的重要方法之一,氮吸附BET法一般被认为是测量颗粒物质比表面的标准方法。 基本原理:将吸附气体导入有刻度的量管中,测量压力,打开试样间的活塞,使气体进入已抽成真空的试样球形管中,待吸附平衡后测量压力。被吸附气体的容积等于进入气体容积减去球形管内“死空间”和玻璃管连接处的气体容积.根据吸附前后的压力、容积以及温度可算出吸附量。 * 传统型氮吸附装置(Emmett装置)如图所示. * 1.3.6 测量方法的选择 根据数据的应用场合来选择； 在水文地质上为说明砂粒在沉降中的行为，宜用沉降法；而测感光底片用卤化银溶胶颗粒大小则以光学方法为宜。 根据粒度性质、数据用途和所测样品的粒度范围选择（表1-4） ； 根据被测颗粒本身存在的形式特点； 取样难易、分散的难易和可取样品量的多少；是动态还是静态测量。 要求的准确度和精密度、是否为常规测试等； * 粉体工程学 学院：材料科学与工程学院工程系 * 第 5-6 学时课 教学课型：理论课√ 实验课□ 习题课□ 实践课□ 技能课□ 其它□ 主要教学内容（注明：* 重点 # 难点 ）： 第一章 粉体的表征与测量 1.3 颗粒粒度的测量 *重点内容: 筛分分析测量法原理及数据的处理、激光测量粒度方法原理、气体吸附法原理。 教学目的要求：撑握粉体粒度的测量方法。 教学方法和教学手段：讲授，多媒体。 讨论、思考题、作业：具体见P14。 参考资料： 1、陶珍东主编，《粉体工程与设备》，化学工业出版社。 2、卢寿慈 主编，《粉体技术手册》，化学工业出版社。 3、 魏诗榴著，《粉体科学与工程》，华南理工大学出版社。 * 前节重点内容回顾 频率分布定义、计算及绘图 颗粒群粒度的表示方法 正、负累积分布定义、计算及绘图 * 1.3 颗粒粒度的测量 定义：把固体颗粒置于具有一定大小孔径或缝隙的筛面上，通过筛孔的称为筛下料，被截留在筛面上的称为筛上料，这种分级方法成为筛分。 特点：是让粉体样品通过一系列不同筛孔的标准筛，将其分离成若干个粒级，分别称重，求得以质量百分数表示的粒度分布，或体积百分数表示的粒度分布。适用于粒度在100mm~20 μm之间的粒度分布测量。 1.3.1 筛分分析（40μm） * ASM200型振动筛分仪 * 1.筛分分析 筛子分类: 非标准筛：手筛，粗粒物料，筛孔尺寸一般为150，120，100…1mm等，可自制。 标准筛：用来筛分6～0.038mm较细物料，是一套相邻筛间筛孔尺寸有一定比例，孔径及筛丝直径均按统一标准制造的筛子。 筛序：按筛孔尺寸自大而小排序，各个筛子所处的层位次序称为筛序。 筛比：按筛序叠好的每两个相邻筛子的筛孔尺寸之比值。 套筛组成：基筛－作为基准的筛子；筛盖；筛底。 * （1）国际标准筛制：Tyler(泰勒)标准 单位：目。 目数为筛网上1英（25.4mm）寸长度内的网孔数。 (a，d单位mm) 25.4 a d * 目数前加正负号则表示能否漏过该目数的网孔。负数表示能漏过该目数的网孔，即颗粒尺寸小于网孔尺寸；而正数表示不能漏过该目数的网孔，即颗粒尺寸大于网孔尺寸。 例如： 粉体颗粒大小的表示方法 “+300目0.5%” —表示有0.5%(占样品的质量分数)的粗大颗粒通不过300目筛，这部分颗粒称为筛余量。 “－ 270～+325目30%” —表示有30%的物料颗粒能通过270目而通不过325目筛子。 “－300目80%” — ？ * 得到比200目粗的筛孔尺寸 得到比200目细的筛孔尺寸 主模系列: 标准规则: 以200目的筛孔尺寸0.074mm为基准，乘或除模 （或） ，则得到 * 副模系列： 得到比200目粗的筛孔尺寸 得到比200目细的筛孔尺寸 标准筛系列： 32 42 48 60 65 80 100 115 150 170 200 270 325 400 其中最细的是400目，孔径是38μm。 * （2）美国标准局（ASTM）系列 采用筛号，以18号筛为基准，筛孔尺寸为1mm。 筛比同Tayler筛。 最细为400号，筛孔尺寸为37μm。 （3）法国标