用紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状TiO2带隙的简单方法.PDFVIP

用紫外-可见-近红外分光光度计 测量粉末状TiO2 带隙的简单方 法 介 绍 测量材料的带隙对半导体、纳米材料以及太阳能等 行业均非常重要。此篇文章描述了如何从某一材料的紫外吸 收光谱确定它的带隙。 “带隙”指的是价带跟导带之间的能量差（图1）； 电子能够从某一能带跃迁到另一能带。对于电子来说要从价 带跃迁到导带，需要一个一定的最小能量来跃迁，即带隙 能。说明带隙的图示如图1 所示。 在半导体和纳米材料行业测量带隙是非常重要的。 绝缘体的带隙大（＞4eV ），导体的带隙小（＜3eV ）。某一 半导体的带隙特性可以通过不同的半导体合金得到控制，如 GaAlAs，InGaAs 和 InAlAs 。参考文献 1 用列表的形式给出 图1 带隙的解释说明 了不同材料以及对应的带隙。 另一个选择方案是在硅基底上镀上不同材料 的多层结构。此方法被广泛应用在制作光伏太阳能电 池的太阳能行业。因为带隙决定了一光伏电池所吸收 的太阳光谱区域，所以非常重要。到达地球的大部分 太阳辐射是由能量值大于硅带隙的波长组成的。这些 高的能量将被太阳能电池吸收，但是由于能量上的差 异部分被转换为热量而不是可用的电能。因而，除非 带隙得到控制，要不然太阳能电池的效率会非常